《近代X射線多晶體衍射》是2004年化學工業出版社出版的圖書，作者是馬禮敦。
基本介紹
- 書名：近代X射線多晶體衍射
- 作者：馬禮敦
- ISBN：9787502556044
- 類別：分析化學及儀器,材料科學
- 頁數：632頁
- 定價：48.00
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間： 2004年09月
- 開本：32開
簡介,目錄,
簡介
本書介紹了X射線多晶體衍射近年的發展，著重在實驗技術和數據分析兩個方面。實驗技術包括X射線源（常規實驗室光源和同步輻射源）、探測器（各種點、線、面探測器）、光學元件（單色、聚焦和準直等）以及計算機的套用（數據處理、資料庫和網站）。還介紹了各種衍射幾何，它們的特點及適用範圍。
數據分析著重介紹了由Rietveld精修發展來的全譜擬合法，其中除了講述其基本原理、實驗要求、精修策略等外，還較詳細地敘述了在多晶聚集態結構、精修和從頭測定晶體結構以及分析晶體內微結構方面的原理與套用實例。此外，也介紹了實驗數據的校正方法及儀器性能評估的方法。
目錄
第一章 緒論--X射線多晶體衍射的發展歷程 1
一、初期2
二、中期8
三、近代10
參考文獻13
第二章 X射線多晶體衍射基本原理16
一、晶體結構的基本特點16
(一）晶體結構的周期性16
(二）晶體結構的對稱性27
二、倒易點陣50
(一）倒易點陣和正點陣互為倒易50
(二）倒易點陣參數和正點陣參數之間的關係51
(三）正、倒點陣晶胞對稱性的關係55
(四）復晶胞的倒易變換56
三、X射線衍射基礎58
(一）原子對X射線的散射59
(二）理想小晶體對X射線的衍射65
(三）倒易點陣與X射線衍射74
四、實際晶體的X射線衍射79
(一）實際小晶體的X射線衍射79
(二）多晶體試樣的X射線衍射88
參考文獻90
第三章 實驗室X射線發生器91
一、密封式X射線管91
(一）一般構造91
(二）精密陶瓷X射線管92
(三）細聚焦X射線管92
(四）準單色X射線管96
二、旋轉陽極（轉靶）X射線管97
(一）轉靶X射線發生器的一般構造97
(二）超高功率轉靶X射線發生器99
(三）低壓高電流轉靶X射線發生器100
(四）高能X射線發生器102
(五）細聚焦轉靶X射線發生器102
三、高強度脈衝X射線源104
(一）電漿X射線源104
(二）高能閃光X射線源109
(三）雷射驅動的X射線源114
四、X射線雷射117
(一）雷射原理117
(二）X射線雷射120
參考文獻127
第四章 同步X射線源129
一、引言129
(一）同步輻射源的特性及與常規X射線源的比較129
(二）同步輻射的發展簡史132
(三）同步輻射裝置的現狀136
二、同步輻射發生裝置140
(一）總體介紹140
(二）注入器142
(三）電子儲存環146
(四）插入件148
(五）光束線151
(六）其他設備154
三、同步輻射的性能參數156
(一）輻射光譜156
(二）輻射的強度161
(三）輻射的角分布與發射度163
(四）輻射的時間結構165
(五）輻射的偏振性166
四、第四代光源與基於加速器的高強脈衝X射線源168
(一）第四代光源168
(二）基於加速器的高強脈衝X射線源176
參考文獻181
第五章 探測器184
一、探測器的主要性能指標184
(一）量子效率（?QE?）和靈敏度184
(二）噪聲水平185
(三）動力學範圍186
(四）線性計數範圍與時間解析度186
(五）能量解析度186
二、氣體計數管187
(一）氣體探測器的構造187
(二）氣體探測器的計數原理187
三、閃爍計數器190
(一）閃爍計數器的原理和構造190
(二）閃爍晶體與作用190
(三）光電倍增管的放大作用192
四、固體探測器192
(一）固體探測器的構造和計數原理192
(二）固體探測器的性能特點193
(三）正比計數器、閃爍計數器和固體計數器的主要性能參數194
五、陣列探測器195
(一）一維陣列式探測器196
(二）二維陣列面探測器196
六、位敏探測器199
(一）一維位敏探測器200
(二）二維位敏面探測器205
七、影像板209
(一）影像板的計數原理209
(二）影像板的特性209
八、電荷耦合探測器213
(一）CCD的構造和工作原理213
(二）CCD的主要性能指標216
(三）X射線CCD探測器217
參考文獻222
第六章 衍射幾何與光路224
一、衍射幾何的演變225
(一）德拜-謝樂（D-B）幾何225
(二）聚焦幾何227
(三）布拉格-勃朗泰諾（B-B）衍射幾何236
二、光學元件242
(一）單晶體元件242
(二）毛細管元件247
(三）鍍膜元件254
(四）波帶片265
(五）硬X射線折射透鏡272
三、特定功能的衍射技術275
(一）顯微衍射275
(二）快速衍射277
(三）能量色散多晶體衍射281
(四）掠入射技術與表面衍射289
(五）原位衍射技術294
(六）聯合技術305
(七）多功能衍射儀311
參考文獻314
第七章 計算機在多晶體衍射中的套用318
一、實驗譜的基本處理319
(一）數據處理的目的和步驟319
(二）數據的平滑320
(三）本底的測定與扣除322
(四）Kα?2衍射的分離327
(五）尋峰335
(六）峰位及峰形參數的測定335
(七）數據處理對峰形參數的影響341
二、實驗數據的分析與套用348
(一）幾個軟體彙編349
(二）計算機自動物相定性分析檢索/匹配軟體351
三、機構、網站、資料庫355
(一）國際的機構、網站與資料庫355
(二）國內的機構、網站與資料庫364
參考文獻368
第八章 X射線多晶衍射儀性能的評估370
一、引言370
二、衍射數據的校正372
(一）衍射線位置（2?θ?）的校正372
(二）強度（?I、Y?）的校正377
(三）衍射峰形的校正381
(四）長時間穩定性的校核386
三、儀器性能指標的評估389
(一）衍射峰位置（2?θ?值）389
(二）衍射峰強度（?I?及?Y?) 392
(三）儀器的解析度394
(四）Shewhart控制圖395
參考文獻397
第九章 Rietveld精修與從頭晶體結構測定399
一、引言399
二、Rietveld方法400
(一）全譜擬合的原理400
(二）峰形函式?G?k?403
(三）峰寬函式?H?k?405
(四）本底函式?Y?ib?405
(五）擇優取向校正407
三、Rietveld方法的實驗409
(一）Rietveld方法對實驗的基本要求409
(二）影響多晶體衍射譜準確性和解析度的一些因素409
(三）實驗裝置416
四、Rietveld結構精修與套用419
(一）Rietveld結構精修的基本條件419
(二）Rietveld精修策略420
(三）精修步驟424
(四）Rietveld精修套用舉例430
五、多晶體衍射從頭晶體結構測定436
(一）多晶體衍射從頭晶體結構測定的一般步驟438
(二）晶胞參數的測定與衍射指數的標定440
(三）重疊峰的分解453
(四）解初始結構455
(五）結構的擴展與精修461
(六）結構參數的計算、結構的描述與表達463
(七）多晶體衍射從頭測定晶體結構舉例465
參考文獻472
第十章 全譜擬合表征多晶體結構475
一、X射線多晶體衍射物相定性分析475
(一）標準數字參比譜全譜匹配順序檢索法476
(二）計算譜權重疊加全譜擬合法478
二、物相定量分析482
(一）原理482
(二）套用舉例484
三、峰形分析研究晶體的微結構487
(一）峰形和峰寬的來源488
(二）峰形分析的第一步：?g(2θ?)和?f(2θ?)的分離492
(三）峰形分析的第二步：從樣品峰寬中將尺寸峰寬與應力峰寬分離498
(四）晶粒尺寸分布的求取505
(五）全譜擬合測結構參數510
參考文獻527
第十一章 X射線多晶體衍射的一些套用530
一、冶金和機械工業531
(一）熔焊中的相轉變動力學和相圖繪製531
(二）機械合金化鈦銅非晶合金的生成機理534
