超高分辨顯微成像系統

超高分辨顯微成像系統

超高分辨顯微成像系統是一種用於生物學、基礎醫學領域的分析儀器,於2016年06月16日啟用。

基本介紹

  • 中文名:超高分辨顯微成像系統
  • 產地:日本
  • 學科領域:生物學、基礎醫學
  • 啟用日期:2016年06月16日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀
技術指標,主要功能,

技術指標

1、 點掃描顯微成像部分: (1) 雷射跨葛淚器:405nm;458、488、514nm;561nm和633nm; (2) 掃描速度求茅項:大於4幀/秒(512×512像素),200幀/秒(512×16像素); (3) 研究型全自動倒置顯微鏡,電動螢光濾色鏡轉換,增強穩定型光路系統;20X、25X、40X、63/60X、100X物鏡。 (4) 掃描通道:具有高靈敏度低噪音檢測器系統,內置3個以上高靈敏度螢光通道檢測通道,一個透射光檢測通道。 2、 結構化顯微成像部分: (1) 空間解析度:超高分辨轎套糊廈模式下X, Y軸解析度為≤ 120nm,Z軸為≤300 nm(依賴於發射波長);兼習鍵疊嫌容目前常用螢光蛋白和螢光染料。 (2) 時間解析度:超高分辨模式下大於1.6幀/秒,普通解析度員少舟模式下大於25幀/秒(512×512像素)。 (3) 至少配備4個波長固態雷射器:405nm、488nm、561nm和640nm。 (4) 超高分辨成像時,可根據激發波長調整衍射光柵,以保證在各個波長下均可達到最佳成像效果。

主要功能

功能: A1R:多色螢光疊加、3D重構(Z-Stack)、螢光共定位、時間序列(長時間序列)、螢光共振能量轉移(Fret)、螢光漂白後恢復(FRAP)。 N-SIM:分犁燥櫻辨率可高達傳統光學顯微鏡的2倍,可實現XY軸解析度120nm、Z軸解析度300nm。 配置倒置研究級電動顯微鏡;活細胞工作站;電動載物台;第三代完美對焦頌轎系統;雷射器:405nm、488nm、561nm和640nm。 N-STORM:可實現超分辨成像(STORM,解析度可達20 nm),共聚焦成像,TIRF成像。

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