超音波相控陣掃描系統

超音波相控陣掃描系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2020年6月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：超音波相控陣掃描系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2020年6月8日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 探傷儀器 > 超聲探傷儀

技術指標

1、 采甩歡笑用相控陣超音波技術實現對碳纖維複合材料中整盼循永孔隙、分層等缺陷的檢測、定位以及成像。2、 掃描解析度：Φ0.8mm，即能夠分辨出0.8mm直徑及以上的缺陷。3、 設備支持常奔朵喇規A掃描和相控陣檢測功能，可攜帶常規A掃描探頭、相控陣探頭進行檢測工作。4、 攜帶型設備，採用全觸控螢幕設計，顯示器尺寸10.4英寸。

主要功能

用於碳纖維複合材料的無損檢測，設備可用於碳纖維複合材料束元巴良的平面、曲舉記紙面和盛甩乎R角的內部缺陷檢測及缺陷定位（大小、深度等）。具有較快熱厚的探測效率，深度方向的缺陷可以一次性檢測，無需更換探頭，軟體能夠基於檢測數據實現孔隙率的統計。