超分辨共聚焦顯微鏡A1/SIM/STORM是一種用於數學領域的分析儀器，於2017年7月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：超分辨共聚焦顯微鏡A1/SIM/STORM
- 產地：日本
- 學科領域：數學
- 啟用日期：2017年7月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1.多種物鏡的選擇滿足不同樣品的需求。2.高功率固體雷射器：405nm，488nm，561nm，647nm。 2.高速高精度壓電piezo Z進行三維層掃。3.四通道檢測器，可同時進行四色成像。4.32通道陣列檢測器，可進行光譜成像，並實時拆分；波長解析度可達到2.5/6/10nm；可設定虛擬發射光濾光片來自定義採集的波長範圍。5.可進行光刺激實驗。6.具有CO2恆溫培養系統，配合尼康出色的完美對焦系統（PFS），能對活細胞進行長時間穩定的觀察。7. 軟體分析功能：3D結構渲染，螢光強度、面積、長度測量等。
主要功能
雷射共聚焦顯微鏡以雷射作為光源，通過檢流計式掃描器將其聚焦在樣品點表面，而相應的發射光經過針孔去除了標本的非焦平面信息產生的背景噪音干擾，產生高解析度的圖像。物鏡具有10x，20x，40x，60x，100x，可滿足不同樣品拍攝需求。多種波長（405nm，488nm，561nm，647nm）的固體雷射器。CO2恆溫培養系統，配合尼康出色的完美對焦系統（PFS），能對活細胞進行長時間穩定的觀察。能夠進行樣品不同螢光層面的標記信號拍攝，可實現三維展示圖片及不同光切面的截面獲取。可進行光刺激漂白恢復實驗。多種適配器，可進行孔板，載玻片樣品，35mm或55mm孔徑小皿樣品觀察。A1（雷射共聚焦）與SIM。
