| 中文名稱 | 質子X射線螢光分析 |
| 英文名稱 | proton-induced X-ray emission，PIXE |
| 定 義 | 以入射高能質子(或氦粒子)束誘發待分析元素髮射特徵X射線，從而分析薄膜及近表面層化學成分的一種方法。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
基本介紹
- 中文名：質子X射線螢光分析
- 外文名：proton-induced X-ray emission，PIXE
- 一級學科：材料科學技術
- 二級學科：材料科學技術基礎
- 中文名稱
- 質子X射線螢光分析
- 定 義
- 以入射高能質子(或氦粒子)束誘發待分析元素髮射特徵X射線，從而分析薄膜及近表面層化學成分的一種方法。
- 套用學科
- 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科）
