記憶體計時

記憶體計時

記憶體計時是測試記憶體條時產生的數據,例:5-5-6-15 這四個數據解釋見下,總的說來是越小越好!

基本介紹

  • 中文名:記憶體計時
  • 釋義:測試記憶體條時產生的數據
  • 例如:5-5-6-15 這四個數據
  • 用途:一些技術
記憶體計時是測試記憶體條時產生的數據,例:5-5-6-15 這四個數據解釋見下,總的說來是越小越好!
CAS# Latency:行地址控制器延遲時間,簡稱CL。表示從已經定址的行,到達輸出快取器的數據所需要的時鐘循環數。對記憶體來說,這是最重要的一個參數,這個值越小,系統讀取記憶體數據的速度就越快,反之越慢。
RAS# to CAS#:列地址至行地址的延遲時間,簡稱RCD,表示在已經決定的列地址和已經送出行地址之間的時鐘循環數,以時鐘周期數為單位,該值越小越好。
RAS# Precharge:列地址控制器預充電時間,簡稱tRP,表示對迴路預充電所需要的時鐘循環數,以決定列地址。同樣以時鐘周期數為單位,也是越小越好。
TRas#:列動態時間,也稱tRAS,表示一個記憶體晶片上兩個不同的列逐一定址時所造成的延遲,以時鐘周期數為單位,通常是最後也是最大的一個數字。

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