計算機斷層成像儀

計算機斷層成像儀是一種用於測繪科學技術、材料科學領域的特種檢測儀器，於2014年10月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：計算機斷層成像儀
• 產地：德國
• 學科領域：測繪科學技術、材料科學
• 啟用日期：2014年10月13日
• 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機

技術指標

工作尺寸：外直徑310mm，選擇擴展掃描最大直徑可達550mm；有效掃描高度最大600mm。掃描時間：典型高精度掃描為5~15分鐘；快速掃描小於1分鐘。射線源技術參數：高壓範圍10~225kV；管電流0.01~3.0mA;最大管功率320W；最小焦點樣品距離6.75mm；焦點尺寸6um；自動啟動，自動聚焦，恆功率；封閉循環水冷。探測器參數：像素10242Pixel；總面積2048mm2；節距200um；數模轉換16bit；刷新率15fps@200u,30 fps@400u;能量範圍0~225kV。

主要功能

對物體進行微觀分析。