補償中子測井

補償中子測井

補償中子測井是在中子測井的基礎上進行版圖校正後克服井眼不規則變化影響的一種中子測井方法,它同時記錄源距不同的兩條中子曲線,用來在裸眼井或套管井中求孔隙度。

基本介紹

  • 中文名:補償中子測井
  • 外文名:compensated neutron logging
  • 全拼:buchang zhongzi cejing
  • 學科:核測井
原理,中子(測井)孔隙度,影響因素,岩性孔隙度測井,

原理

利用雙探測器消除井眼對測量結果的影響的同位素源中子測井方法。補償中子測井用同位素中子源(18Ci鎇—鈹中子源)在井筒中向地層發射快中子,再用兩個長、短不同源距的熱中子探測器,測量經地層慢化並散射回到井筒的熱中子,得到兩個計數率(見圖)。短源距(26cm)與長源距(38cm)探測器計數率的比值,主要反映地層對快中子的減速能力,顯示出地層含氫量的變化。

中子(測井)孔隙度

補償中子測井中,用含氫指數表征地層的含氫量。
中子測井儀器是在純石灰岩—淡水中子孔隙度標準井群中刻度的,通過刻度建立起計數率比值與孔隙度的轉換關係。測得的孔隙度實質上是等效含氫指數,稱為中子(測井)孔隙度。只有當岩性、孔隙流體、井筒條件與儀器刻度條件相同時,測得的中子孔隙度才與地層的孔隙度相等。
純石灰岩—淡水孔隙度與它的含氫指數相等,液態烴的含氫指數與淡水接近,油層的孔隙度與含氫指數無明顯差別。天然氣的含氫指數比水和油的低很多,並且隨溫度和壓力而變化。用補償中子測井能把氣層與油水層區分開。地層的含氫指數還和岩性有關,利用這種關係可識別岩性。

影響因素

補償中子測井的探測深度隨孔隙度減小而增大。長源距探測器LS的探測深度大約為40cm,而短源距探測器SS的探測深度大約只有30cm。由於中子孔隙度測井的探測範圍比較小,井筒的影響雖然得到補償,但在許多情況下還需做校正。

岩性孔隙度測井

補償中子測井與補償密度測井和聲波速度測井一起被稱之為岩性孔隙度測井,是裸眼井測井系列的主要內容。

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