表面粗糙度測定儀

表面粗糙度測定儀是一種用於材料科學領域的計量儀器，於2005年5月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：表面粗糙度測定儀
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2005年5月1日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 表面粗糙度基準裝置

技術指標

垂直方向解析度0.1nm，水平方向解析度0.45~11.8um.。

主要功能

利用白光干涉原理進行表面輪廓測量，計算並顯示三維輪廓結構，適用於反射式與穿透式材料有高低起伏的表面輪廓測量。