表面污染測定

表面污染測定

《表面污染測定(第1部分):β發射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發射體(GB/T 14056.1-2008)》規定了測定β發射體(最大β能量大於0.15 MeV)和α發射體表面污染的方法。本部分適用於以單位面積放射性活度表示的設備、設施、放射性物質的容器以及密封源的表面污染測定。《表面污染測定(第1部分):β發射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發射體(GB/T 14056.1-2008)》由中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會發布。為中華人民共和國國家標準,由中國標準出版社出版發行。

基本介紹

  • 書名:表面污染測定
  • 作者:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
  • 出版日期:2008年10月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:155066133654
  • 外文名:Evaluation of Surface Contamination-Part 1:Beta-Emitters(maximum Beta Energy Greater Than 0. 15 MeV)and Alpha Emitters
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:14頁
  • 開本:16
  • 品牌:北京勁松建達科技圖書有限公司
《表面污染測定(第1部分):β發射體(Eβmax>0.15 MeV)和α發射體(GB/T 14056.1-2008)》與ISO 7503.1:1988主要技術性差異如下:ISO 7503.1:1988引用的其他國際標準中由相應的我國標準代替(見第2章);增加了我國標準中關於表面污染控制水平的規定(4.2.1)。為便於使用,本部分做了下列修改:“ISO 7503的本部分”改為“GB/T 14056的本部分”;用小數點“.”代替作為小數點的逗號“,”;有的條款的段落增加了條的編號。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們