《表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則(GB/T 19502-2004/ISO 14707:2000)》在實施套用中，應同時引用ISO3497：1990《金屬鍍層鍍層厚度的測定X射線光譜法》等相關的技術標準。本標準的附錄A為規範性附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出。本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。本標準負責起草單位：寶山鋼鐵股份有限公司。本標準主要起草人：張毅、陳英穎、沈電洪、張志穎。
基本介紹
- 書名：表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則
- 作者：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
- 出版日期：2004年8月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066121116
- 外文名：Surface Chemical Analysis-Glow Discharge Optical Emission Spectrometry(GD-OSE)-Introduction to Use
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：6頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則(GB/T 19502-2004/ISO 14707:2000)》中國標準出版社出版。
圖書目錄
前言
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語和定義
4原理
5儀器
5.1輝光放電發射光源
5.2光學單元
5.3光電檢測器和測量裝置
6分析步驟
6.1檢定
6.2測定
附錄A（規範性附錄）安全
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語和定義
4原理
5儀器
5.1輝光放電發射光源
5.2光學單元
5.3光電檢測器和測量裝置
6分析步驟
6.1檢定
6.2測定
附錄A（規範性附錄）安全
