螢光輔助成像原子力顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年12月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：螢光輔助成像原子力顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2016年12月15日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
掃描器100微米X100微米X15微米；10毫米X10毫米樣品台，定位精度高於100納米；36英寸X47英寸X30英寸防震台；Nanoscope V9型SPM控制器。
主要功能
可以準確地觀測樣品表面微區(納米及亞微米尺度)三維形貌，可以實現液體環境測試的需求，與螢光顯微鏡聯用可同步原子力與螢光顯微鏡的測試及信號，形貌測試同時對樣品表面物理化學及力學特性進行研究，能測試細胞等生物材料的表面形貌及楊氏模量，粘彈性等參數。
