| 中文名稱 | 薄層電阻 |
| 英文名稱 | sheet resistance |
| 定 義 | 半導體膜或薄金屬膜單位面積上的電阻。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），總論（三級學科） |
| 中文名稱 | 薄層電阻 |
| 英文名稱 | sheet resistance |
| 定 義 | 半導體膜或薄金屬膜單位面積上的電阻。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），半導體材料（二級學科），總論（三級學科） |
中文名稱 薄層電阻 英文名稱 sheet resistance 定義 半導體膜或薄金屬膜單位面積上的電阻。 套用學科 材料科學技術(一級學科),半導體材料(二級學科),總論(三級...
薄層電阻的原理進行了綜述,重點分析了常規直線四探針法、改進范德堡法和斜置式方形Rymaszewski 法的測試原理,並套用斜置式Rymaszewski 法研製成新型的四探針測試儀...
四探針法通常用來測量半導體的電阻率。四探針法測量電阻率有個非常大的優點,它不需要校準;有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法校準。...
數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用於測試半導體材料電阻...
1.3 圖像處理與分析及共在半導體薄層電阻測量中的套用參考文獻2 四探針技術測量薄層電阻的原理分析2.1 國探針測試技術概述2.2 常規直線四探針法...
②發射區磷擴散電阻:其薄層電阻值為2～5歐,可用作低值電阻。但實際上常用作“磷橋”,代替內部金屬連線遇到難以避免交叉時完成交越;③基區溝道電阻:這是利用基...
開爾文四線檢測被用於一些歐姆表和阻抗分析儀,並在精密應變計和電阻溫度計的接線配置。也可用於測量薄膜的薄層電阻。四線檢測的關鍵優點是分離的電流和電壓的電極,...
其優點是多晶矽可以經受高溫工藝,並可在表面生長氧化層,又可得到適當的MOS電晶體的閾值電壓,但多晶矽的薄層電阻約為20～50歐。當電路集成度增大時,較大的串聯電阻...
因此,這類儲層應選擇3700的常規測井系列和薄層電阻率測井及補測小數控的相關資料。6、複雜岩性地層對於這類地層,測井系列和項目應該與探井裂縫性地層測井系列和項目...