基本介紹 中文名：缺陷遺失率外文名：defect escape rate用途：衡量軟體質量統計方法：(UAT+PROD)/(QA+UAT+PROD)×100% 缺陷遺失率（defect escape rate），它是一個衡量軟體質量的一個標準。它的統計方法是：(UAT+PROD)發現的缺陷數目/(QA+UAT+PROD)發現的缺陷數目×100%這個指標越大，就表示軟體的質量越差。附：QA是測試階段，UAT是指用戶體驗測試階段，PROD是正式發布階段。
