綜合礦物分析系統電鏡是一種用於地球科學、空間地球系統科學領域的分析儀器，於2019年6月6日啟用。
綜合礦物分析系統電鏡是一種用於地球科學、空間地球系統科學領域的分析儀器，於2019年6月6日啟用。技術指標STEM/RATEM探測器，解析度模式，工作距離小於3MM，加速電壓30V，束斑直徑最小，放大倍數1000KX，掃...
多用途掃描電鏡分析系統 多用途掃描電鏡分析系統是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2014年12月31日啟用。技術指標 礦物多指標的自動分析。主要功能 礦物種類、含量、粒度分布、化學元素等參數的綜合測量。
工藝礦物參數自動分析系統是一種用於礦山工程技術、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2012年5月25日啟用。技術指標 掃描電子顯微鏡FEI Quanta650;雙探頭電製冷能譜儀Bruker Quantax200;工藝礦物參數自動分析軟體MLA 3.1。主要功能 採用掃描電鏡和能譜定量技術，對工藝礦物學參數進行自動化測定...
自動礦物分析系統是一種用於地球科學、材料科學、化學領域的分析儀器，於2018年1月1日啟用。技術指標 （1）分析元素範圍：Be4 - Pu94； （2）解析度：優於127eV （在Mn Kα處）； （3）峰背比：20000 : 1 （Fe 55，Mn Kα）； （4） 穩定性：計數率1000-100000CPS情況下，譜峰漂移 ＜1ev，解析度變化...
礦物參數自動分析系統是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2014年12月1日啟用。技術指標 加速電壓：200v-30KV 放大倍數：100x-1000000x 最高解析度：3.0nm 樣品規格：Φ30mm。主要功能 MLA（Mineral Liberation Analyser）是目前世界上最先進的工藝礦物學參數自動定量分析測試儀器。可提供工藝礦物學參數：礦物物質...
利用這一系統獲得的鋯石高清晰CL圖像及CL譜圖分析結果顯示其在鋯石等發光礦物的微區結構特徵研究和成因類型鑑別中有廣泛的套用前景。場發射掃描電子顯微鏡（簡稱場發射掃描電鏡）是研究微觀世界的重要工具之一，為人們在微納米尺度上研究物質的結構提供了有力的手段，在材料科學等眾多學科領域及質量過程控制中得到日益廣泛...
能譜儀：雙規漂移探頭；解析度：30kv下2.5nm（背散射探頭）、30kv下1.0nm（二次電子探頭）、1kv下3.0nm（二次電子探頭）。主要功能 MLA礦物參數分析系統以掃描電鏡和能譜儀為硬體基礎，通過分析軟體對礦物的背散射電子圖像和能譜譜線進行對比分析，得出礦物種類、粒徑大小等數據，為礦物選冶提供支持.。
[1] 主要功能 播報 編輯 MLA 250 系統採用FEI Quanta多用途掃描電鏡,結合高速、高能量X射線能譜儀作為系統的硬體支持,是一個高速自動化的礦物參數自動定量分析系統。能對樣品進行礦物物質組成、成分定量、礦物嵌布特徵、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數進行自動定量分析,主要用於礦業、冶金、地質等領域。 [1] ...
