組合式螢光壽命測量系統

組合式螢光壽命測量系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年11月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：組合式螢光壽命測量系統
• 產地：法國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2006年11月30日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

(一)穩態測量：（1） 靈敏度 S/N優於 3000：1。（2） 光譜解析度：優於 0.2nm。（3） 波長範圍：200～850nm 或更寬。（4） 波長準確度：優於0.5nm。（5） 具有測定液體、固體、薄膜及粉末樣品的能力。

主要功能

主要用於納米材料和器件的光學性能的研究。