紫外-近紅外顯微螢光/是一種用於信息科學與系統科學、物理學、材料科學領域的分析儀器，於2007年1月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：紫外-近紅外顯微螢光/
- 產地：日本
- 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、材料科學
- 啟用日期：2007年1月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 拉曼光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
He-Cd雷射器配套光學元件（325nm/442nm）；Acton SP-2358光譜儀（435.8nm處解析度0.1nm）；SPEC-10 100B XP Cooled CCD Camera；NOS-100UV-Vis microscope；objective lens M Plan UV 80X物鏡。1.UV-Vis激發組件；濾光片，光具座，光纖（20，80，800微米）；2.雷射偶合系統；3.UV-Vis顯微鏡，紫外成像系統，XYZ三維位移台；4.UV80xMAPOSL50物鏡；5.PD-300UV雷射功率計；6.偏振片。
主要功能
可以通過雙波長雷射激發研究單個納米結構或者樣品的微區進行螢光和拉曼光譜的分析。並可以和液氦製冷台連用實現巨觀變溫測量。
