紫外可見近紅外顯微光譜儀

紫外可見近紅外顯微光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2006年12月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：紫外可見近紅外顯微光譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2006年12月11日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紫外可見分光光度計

技術指標

光譜範圍：200-2100nm； 螢光光譜範圍：300-1000nm； 螢光激發：254-546nm； 檢測器：CCD。

主要功能

可以對樣品進行微區範圍內的反射光譜、透射光譜以及螢光光譜測試，並結合自身軟體計算獲得樣品顏色的三刺激值。