紫外-近紅外絕對量子產率測量系統是一種用於化學、物理學領域的分析儀器，於2018年8月30日啟用。
基本介紹
- 中文名：紫外-近紅外絕對量子產率測量系統
- 產地：日本
- 學科領域：化學、物理學
- 啟用日期：2018年8月30日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 螢光分光光度計
技術指標,主要功能,
技術指標
300-950nm雷射光譜測試，及其發積分球測量整個譜域，採用高靈敏度CCD背感光感測器瞬時測量整個譜域射光譜 ， 150W氙燈，激發單色儀3.3積分球，CCD相機：1024*1，製冷-25° 高能氙燈high power light source測量量子效率1%的樣品。
主要功能
針對分子量子體系以及微納材料體系的精密測量越來越需要獲取絕對量子產率方面的信息，很多工作中微觀機理圖像的建立均有賴於這方面的重要信息。目前實驗室的穩態與瞬態螢光測量系統只能獲得紫外-近紅外激發譜/發射譜及所對應的動力學演化信息，而無法測量體系的絕對量子產率。擬購置的這套系統，突破了傳統技術無法測試300-1650nm大範圍量子產率的瓶頸，可測試低於1%的絕對量子產率，並可用於研究上轉換髮光過程。目前只有HONGKONG SPARK ELECTRO-OPTICS CO., LIMITED公司提供的產品能滿足我們的實驗需要， 為單一來源採購。
