納米表征與調控研究進展

內容簡介

物質在納米尺度下表現出的奇異現象和規律將改變相關理論的現有框架，使人們對物質世界的認識進入到嶄新的階段。在微/納米尺度對樣品進行測量、操控、加工，成為分析和構建新的納米材料、結構和器件不可或缺的途徑。在微、納米尺度上利用“自下而上(bottom-up)”和“自上而下(top-down)”的微納加工方法對微納米材料、器件等進行微結構表征、操縱、控制、加工等，測量其力、熱、光、電、磁等低維物理特性，開展相關基礎理論、方法研究和設備改造、研製，對納米科技的發展具有重要的意義。

本書上冊主要包括掃描電子顯微學、透射電子顯微學、聚焦離子束和電子束納米加工技術、氦離子顯微學等的基礎理論，通過一些典型的套用介紹如何運用這些方法實施對材料及其結構的表征、加工等。

圖書目錄

1 Electron/Ion Optics

1.1 General ray diagram of TEM

1.2 Electron sources

1.3 Optics

1.4 Detectors

1.5 Ion optics

2 Scanning Electron Microscopy

2.1 Introduction

2.2 Fundamentals of the SEM

2.3 Analytical capabilities of the SEM

3 Transmission Electron Microscopy

3.1 Introduction

3.2 High-resolution transmission electron microscopy imaging

3.3 A new approach to image analysis in HRTEM

3.4 Focal series reconstruction

3.5 Convergent beam electron di?raction

3.6 Lorentz electron microscopy

3.7 Electron holography

4 Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)

4.1 Introduction

4.2 The Principle of reciprocity

4.3 Principle of STEM imaging

4.4 HAADF imaging

4.5 ABF imaging

4.6 Scanning Moir?e fringe imaging

4.7 Application on micro-area analysis

納米表征與調控研究進展

基本介紹

內容簡介

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