《納米壓痕技術檢測殘餘應力》是2016年6月科學出版社出版的圖書，作者是王海斗、朱麗娜、徐濱士。
基本介紹
- 中文名：納米壓痕技術檢測殘餘應力
- 作者：王海斗、朱麗娜、徐濱士
- 出版時間：2016年06月
- 出版社：科學出版社
- 頁數：196 頁
- ISBN：9787030487810
- 定價：75 元
- 開本：16 開
- 裝幀：平裝
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《納米壓痕技術檢測殘餘應力》共5章，在系統歸納材料表面殘餘應力的形成機理及其測量技術的原理和缺陷的基礎上，重點介紹了先進的納米壓痕測量技術，深入闡述了不同計算模型的測量原理、適用範圍及缺陷，並系統總結了不同模型在殘餘應力檢測中的實際套用。《納米壓痕技術檢測殘餘應力》涉及面廣、套用面寬，對研究表面殘餘應力的實際問題具有較強的指導作用。
《納米壓痕技術檢測殘餘應力》可供從事機械、材料、力學，以及表面工程、再製造工程等學科方向教學、科研和生產的相關人員參考閱讀，也可作為高等院校相關專業研究生和高年級本科生的專業教材。
圖書目錄
前言
第1章材料中的殘餘應力
第2章納米壓痕檢測原理及方法
第3章納米壓痕法檢測殘餘應力的理論模型
第4章Suresh模型和Lee模型在檢測殘餘應力中的套用
第5章其他模型在檢測殘餘應力中的套用
