紅外顯微技術

紅外光譜技術與顯 微技術相結合而產生的一種微量分析技術。即在通過顯微鏡 觀察被測樣品的外觀形態或物理微觀結構的基礎上直接測試 樣品某特定部位的化學結構，得到該微區物質的高質量的紅 外譜圖，譜圖尺寸與紅外或可見光波長在同一數量級上。有 不損傷試樣和非接觸式直接測量等特點，而且掃描速度快，采 樣量小，是一種非破壞性的過程分析方法，在晶體表面研究、 無定形半濘體和微晶質半導體研究等領域都有廣泛套用。