紅外線探傷

紅外線探傷的原理是紅外熱像儀無損檢測的基本原理，在檢測工件缺陷的同時，可以非常容易地計算出缺陷的位置、形狀、大小等，從而全面檢測工件的參數。

基本介紹

• 中文名稱：紅外線探傷
• 外文名稱：Infrared detection
• 別名：近紅外線與遠紅外線
• 行政區類別：近紅外線與遠紅外線
• 面積：0.76至400微米
• 波長：0.76至400微米
• 類別：近紅外線與遠紅外線
• 種類：X光射線探傷、超音波探傷等
• 套用：紅外線

紅外線

光譜中波長自0.76至400微米的一段稱為紅外線，紅外線是不可見光線。所有高於絕對零度（－273℃）的物質都可以產生紅外線。現代物理學稱之為熱射線。醫用紅外線可分為兩類：近紅外線與遠紅外線。

幾種無損探傷

X光射線探傷、超音波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、紅外線探傷

紅外線探傷原理

1、紅外熱像儀無損檢測的基本原理

其工作原理是； 只要物體具有一定溫度，它就要向外發射紅外線，且紅外輻射的強度可由史蒂芬～玻爾茲曼定律表示為：

M=εσT4

其中ε為灰體發射係數，T為絕對溫度，σ為史蒂芬-玻爾茲曼常數。

紅外熱成像無損檢測技術可分為被動式和主動式兩種。被動式是利用待測對象本身的發熱過程來進行檢測，主要用於有摩擦的運動部件、電器、冶金，化工等場台。

如果對工件人為地加熱(主動式)，在工件中形成熱流傳播過程。工件中有缺陷和沒有缺陷的地方因熱傳導率不同，造成對應表面的溫度不同，使對應的紅外輻射強度也不同。我們只要採用紅外熱像儀記錄工件表五的溫度場分布(紅外熱圖像)就可以檢測出工件中是否有裂紋，剝離、夾層等缺陷。

2、檢測方法

紅外熱成像無損檢鍘實驗系統如圖所示。加熱源對工件進行加熱，工件表面溫度場分布由紅外熱像儀接收後，輸出的視頻經視頻採集卡採集後送微機進行圖像處理，將處理結果再送到錄象機進行保存和顯示器顯示。

對工件探傷時可分為兩種方法：穿透法和反射法。穿透法的原理是：加熱源對工件的一個側面進行加熱，同時在另一個側面由紅外攝像儀接收工件表面的溫度場分布。如果工件記憶體在缺陷將會對熱流的傳播過程產生阻礙作用，在待測工件表面造成一個“低溫區”，在紅外攝像儀上接收到的熱圖像將是一個“暗區” 。反射法的原理是；加熱源對工件的一面進行加熱，在同一面採用紅外攝像儀接收紅外熱圖像。如果工件中有缺陷，將阻礙熱能的傳播，造成能量積累(反射)，使缺陷部位對應的工件表面形成一個“高溫區” ，在熱圖像中將是一個“亮區”。

在檢測工件缺陷的同時，可以非常容易地計算出缺陷的位置、形狀、大小等，從而全面檢測工件的參數。

特殊用途

火箭同飛機的多層膠合結構，紅外線探傷效果，用法，效率最好！