| 中文名稱 | 精密測微檢定儀 |
| 英文名稱 | precision micrometer inspection instrument |
| 定 義 | 主要用於標定位移感測器或位移發生器的測量器。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），工業自動化儀表與系統（二級學科），機械量測量儀表-機械量測量儀表名稱（三級學科） |
| 中文名稱 | 精密測微檢定儀 |
| 英文名稱 | precision micrometer inspection instrument |
| 定 義 | 主要用於標定位移感測器或位移發生器的測量器。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），工業自動化儀表與系統（二級學科），機械量測量儀表-機械量測量儀表名稱（三級學科） |