利用核輻射和核電子儀器可對各種試樣作能譜測量，從而確定樣品中的微量成分，這類儀器統稱為精密分析核電子儀器。
基本介紹
- 中文名：精密分析核電子儀器
- 功能：作能譜測量
- 目的：確定樣品中的微量成分
- 途徑：核輻射和核電子儀器
簡介
利用核輻射和核電子儀器可對各種試樣作能譜測量，從而確定樣品中的微量成分，這類儀器統稱為精密分析核電子儀器。
多道譜儀 由輻射探測器、核電子學信號處理電路和多道分析器組成，用於測量核輻射譜（能譜、時間譜等）的系統。常按所用探測器命名，例如，使用閃爍探測器的稱為閃爍譜儀；使用矽鋰探測器、鍺鋰探測器和高純鍺探測器（見半導體探測器）的分別稱為矽鋰譜儀、鍺鋰譜儀和高純鍺譜儀。有的也按所測輻射命名,如X射線譜儀和正電子譜儀等。各種利用電子計算機的譜儀，都配有譜處理程式和放射性核素資料庫，能自動識別放射性核素並確定其含量。
正電子譜儀 某些放射性核素（如22Na）發射的正電子和被測樣品中的負電子相遇時發生湮沒，絕大多數情況下轉化為兩個能量近於511千電子伏的光子,它們向相反方向輻射,其夾角近於180°。正電子從產生到湮沒的時間決定了正電子壽命，約為數百皮秒。正電子壽命、兩個輻射光子的能量分布和夾角等參數，都與被測物質的許多特性──如晶格缺陷、物質相變、物質的電子結構等──有關。正電子壽命可用回響速度快的探測器和定時電路測定；光子的能量分布可用高能量解析度多道譜儀測量；光子間的夾角可用位置靈敏探測器確定。測量上述參數的各種譜儀統稱為正電子譜儀。
X 射線螢光分析儀 利用一定能量的光子或帶電粒子轟擊樣品,激發樣品中的原子產生特徵X射線，其能譜由多道譜儀（近代的分析儀多用矽鋰譜儀，有的工業分析儀採用單道譜儀）測量。通過分析所測譜中各特徵 X射線的能量和強度，即可確定樣品中極微量元素的成分和含量。X射線螢光分析儀廣泛用於材料成分分析、環境樣品分析、考古分析和刑事偵察等方面。
多道譜儀 由輻射探測器、核電子學信號處理電路和多道分析器組成，用於測量核輻射譜（能譜、時間譜等）的系統。常按所用探測器命名，例如，使用閃爍探測器的稱為閃爍譜儀；使用矽鋰探測器、鍺鋰探測器和高純鍺探測器（見半導體探測器）的分別稱為矽鋰譜儀、鍺鋰譜儀和高純鍺譜儀。有的也按所測輻射命名,如X射線譜儀和正電子譜儀等。各種利用電子計算機的譜儀，都配有譜處理程式和放射性核素資料庫，能自動識別放射性核素並確定其含量。
正電子譜儀 某些放射性核素（如22Na）發射的正電子和被測樣品中的負電子相遇時發生湮沒，絕大多數情況下轉化為兩個能量近於511千電子伏的光子,它們向相反方向輻射,其夾角近於180°。正電子從產生到湮沒的時間決定了正電子壽命，約為數百皮秒。正電子壽命、兩個輻射光子的能量分布和夾角等參數，都與被測物質的許多特性──如晶格缺陷、物質相變、物質的電子結構等──有關。正電子壽命可用回響速度快的探測器和定時電路測定；光子的能量分布可用高能量解析度多道譜儀測量；光子間的夾角可用位置靈敏探測器確定。測量上述參數的各種譜儀統稱為正電子譜儀。
X 射線螢光分析儀 利用一定能量的光子或帶電粒子轟擊樣品,激發樣品中的原子產生特徵X射線，其能譜由多道譜儀（近代的分析儀多用矽鋰譜儀，有的工業分析儀採用單道譜儀）測量。通過分析所測譜中各特徵 X射線的能量和強度，即可確定樣品中極微量元素的成分和含量。X射線螢光分析儀廣泛用於材料成分分析、環境樣品分析、考古分析和刑事偵察等方面。
