《粉末衍射法測定晶體結構（第二版）（上下冊）》是2011年3月1日科學出版社出版的圖書，作者是梁敬魁。
基本介紹
- 書名：粉末衍射法測定晶體結構（第二版）（上下冊）
- 作者：梁敬魁
- ISBN：9787030304735
- 頁數：660
- 定價：198.00
- 出版社：科學出版社
- 出版時間：2011年3月1日
- 裝幀：平裝
- 開本：16
- 叢書名：現代物理基礎叢書·典藏版
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（上冊） X射線衍射結構晶體學基礎（第二版）》：
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。本書除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基本洪禁鑽概念、X射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外，還比較系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化、點陣常數的精確測量、粉末衍射測定新型化合物晶體頁刪愉結構的各種方法及里特沃爾德（Rietveld）法全譜擬合修采檔正晶體結構、固溶體類型與超結構的測定，以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的套用。重點闡述粉末衍射結構分析從頭計算方法。
本書可供從事X射線晶體學和材料科學的科技工作者，以及高等院校有關專業的師生參考。
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（下冊） X射線衍射在材料科學中的套用（第二版）》：
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。本書除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎，化合物結構的晶體化學基本概念，X射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外，比較系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化，點陣常數的精確測量，粉末衍射測定新型化合物晶體結構的各種方法及里特沃爾德（Rietveld）法全譜擬合修正晶體結構，固溶體類型與超結構的測定，以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的套用，重點闡述粉末衍射結構分析從頭計背烏洪算方法。
本書可供從事X射線晶體學和材料科學的科技工作者，以及高等院校有關專業的師生參考。
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。本書除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基本洪禁鑽概念、X射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外，還比較系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化、點陣常數的精確測量、粉末衍射測定新型化合物晶體頁刪愉結構的各種方法及里特沃爾德（Rietveld）法全譜擬合修采檔正晶體結構、固溶體類型與超結構的測定，以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的套用。重點闡述粉末衍射結構分析從頭計算方法。
本書可供從事X射線晶體學和材料科學的科技工作者，以及高等院校有關專業的師生參考。
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（下冊） X射線衍射在材料科學中的套用（第二版）》：
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎，X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一。本書除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎，化合物結構的晶體化學基本概念，X射線粉末衍射的實驗方法，以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外，比較系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化，點陣常數的精確測量，粉末衍射測定新型化合物晶體結構的各種方法及里特沃爾德（Rietveld）法全譜擬合修正晶體結構，固溶體類型與超結構的測定，以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的套用，重點闡述粉末衍射結構分析從頭計背烏洪算方法。
本書可供從事X射線晶體學和材料科學的科技工作者，以及高等院校有關專業的師生參考。
圖書目錄
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（上冊） X射線衍射結構晶體學基礎（第二版）》：
第二版前言
第一版序
第一版前言
第一章 X射線衍射的晶體學基礎
§1．1 晶體的基本特徵
§1．2 晶體的巨觀對稱元素
1．2．1 對稱中心
1．2．2 對稱面（反映面）
1．2．3 旋轉對稱軸（對稱軸）
1．2．4 五次和高於六次的旋轉對稱軸不可能存在
1．2．5 旋轉反演對稱軸
1．2．6 旋轉反映軸
1．2．7 巨觀對稱元素的圖示
§1．3 巨觀對稱元素的組合定理
§1．4 32個晶體類型、點群和晶系
1．4．1 32個晶體類型的推導
1．4．2 點群
1．4．3 七種晶系
§1．5 點陣、晶面、晶向和晶帶
1．5．1 空間點陣
1．5．2 陣點平面指數
1．5．3 空間點陣的陣點直線方向指數
1．5．4 晶帶與晶帶軸
1．5．5 晶棱與晶棱指數
1．5．6 晶面指數與晶棱指數的相互關係
1．5．7 同一晶帶各個晶面的指數
§1．6 倒易點陣
1．6．1 倒易點陣概念
1．6．2 晶體正空間和淚拘紋希倒易空間晶胞基本參數的關係
1．6．3 晶向與晶向、晶面與晶面、晶向與晶面間夾角的計算
§1．7 14種布拉維（Bravais）點陣
§1．8 微觀空間對稱元素的組合
1．8．1 晶體的微觀對稱元素
1．8．2 微觀空間對稱元素與周期平移的組合
1．8．3 微觀空間對稱元素之間的組合
1．8．4 微觀對稱元素與非初基平移的組合
§1．9 空間群
1．9．1 坐標系原點的選擇
1．9．2 230個空間群
1．9．3 120個X射線衍射群
1．9．4 國際表中空間群套用的簡要說明
§1．10 X射線衍射方程
1．10．1 布拉格（Bragg）衍射方程式
1．10．2 晶面間距與晶體點陣常數的關係．_
1．10．3 晶面間距與晶體倒易點陣晶胞參數的關係
參考文獻
第二章 化合物組拳抹夜結構的晶體化學基礎
§2．1 化合物分類和晶體結構類型概述
2．1．1 二元和多元複雜化合物的組分分類
2．1．2 晶體結構類型的分類
2．1．3 晶體所屬空間群分布的統計
§2．2 密堆積理論和元素的晶體結構
2．2．1 圓球密堆積在晶體結構中的意義
2．2．2 等徑圓球六角和立方密堆積
2．2．3 圓球密堆積排列的空隙類型
2．2．4 多層密堆積的表示方承紙充法
2．2．5 圓球密堆積排列的點群和空間群
2．2．6 元素的晶體結構
§2．3 元素的原子半徑、離子半徑和共價半徑
2．3．1 元素的原子半徑
2．3．2 元素的離子半徑
2．3．3 元素的共價半徑
§2．4 原子的電負性、電離能和電子親合能
2．4．1 原子的電負性
2．4．2 原子的電離能
……
第三章 X射線粉末衍射實驗技術
第四章 粉末衍射法的峰形、位置和強度
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（下冊） X射線衍射在材料科學中的套用（第二版）》：
第二版前言
第一版序
第一版前言
第五章 粉末衍射圖譜的指標化
§5．1 粉末衍射數據的唯一性、完備性和準確性
§5．2 新相所屬晶系的確定
5．2．1 立方晶系
5．2．2 單軸晶系
5．2．3 正交晶系
§5．3 立方晶系面指數標定法
5．3．1 sin2θ（或d2）比值法
5．3．2 計算尺法
5．3．3 經驗判斷法
§5．4 標定面指數的圖解法
5．4．1 赫耳．戴維（Hull-Davey）圖解法
5．4．2 布恩（Bunn）圖解法
5．4．3 平行線圖解法
5．4．4 三線圖解法
§5．5 標定面指數的解析法
5．5．1 赫西一利普森（Hesse-Lipson）解析標定法
5．5．2 伊藤（Ito）解析標定法
§5．6 標定面指數的電腦程式法
5．6．1 晶面指數嘗試法
5．6．2 晶帶分析法
5．6．3 二分法
5．6．4 等原子三線法
§5．7 約化胞
5．7．1 約化胞概念
5．7．2 確定約化胞的方法
5．7．3 約化胞的類型
5．7．4 約化胞變換為標準單胞
5．7．5 約化處理套用實例
§5．8 齊次軸與德萊尼（Delaunay）約化
5．8．1 齊次軸
5．8．2 晶胞的齊次軸表示法
5．8．3 德萊尼約化法
5．8．4 24種德萊尼約化四面體
5．8．5 德萊尼約化法套用實例
§5．9 指標化結果正確性的判據
5．9．1 德沃爾夫（deWolff）的品質因數判據
5．9．2 史密斯（Smith）的FN或F20判據
5．9．3 面間距差值最小判據
5．9．4 密度判據
5．9．5 衍射線數目與單胞體積判據
參考文獻
第六章 晶體點陣常數的精確測量
§6．1 精確測定晶體點陣常數的意義
6．1．1 點陣常數與固態物質鍵能的關係
6．1．2 測定固態物質的壓縮係數和膨脹係數
6．1．3 測定相圖的固溶線
6．1．4 測定熱力學二級相變溫度
6．1．5 固溶體化學成分分析
6．1．6 判別固溶體的類型
§6．2 德拜-謝樂衍射幾何系統誤差的產生根源和消除方法
6．2．1 試樣的偏心
6．2．2 試樣的吸收
6．2．3 X射線垂直方向的發散度
6．2．4 X射線的折射
6．2．5 衍射照片的伸縮和照相機半徑加工不準確
6．2．6 衍射儀記錄系統的滯後性
6．2．7 衍射背底的影響
§6．3 西曼-玻林準聚焦對稱背反射型衍射幾何的系統誤差和消除方法
6．3．1 照相膠片伸縮
6．3．2 照相機半徑或刀邊偏差
……
第七章 X射線粉末衍射法測定新相的晶體結構
第八章 固溶體與超結構
第九章 晶體結構修正和鍵價理論
漢英對照主題詞索引
化合式索引
第二版前言
第一版序
第一版前言
第一章 X射線衍射的晶體學基礎
§1．1 晶體的基本特徵
§1．2 晶體的巨觀對稱元素
1．2．1 對稱中心
1．2．2 對稱面（反映面）
1．2．3 旋轉對稱軸（對稱軸）
1．2．4 五次和高於六次的旋轉對稱軸不可能存在
1．2．5 旋轉反演對稱軸
1．2．6 旋轉反映軸
1．2．7 巨觀對稱元素的圖示
§1．3 巨觀對稱元素的組合定理
§1．4 32個晶體類型、點群和晶系
1．4．1 32個晶體類型的推導
1．4．2 點群
1．4．3 七種晶系
§1．5 點陣、晶面、晶向和晶帶
1．5．1 空間點陣
1．5．2 陣點平面指數
1．5．3 空間點陣的陣點直線方向指數
1．5．4 晶帶與晶帶軸
1．5．5 晶棱與晶棱指數
1．5．6 晶面指數與晶棱指數的相互關係
1．5．7 同一晶帶各個晶面的指數
§1．6 倒易點陣
1．6．1 倒易點陣概念
1．6．2 晶體正空間和淚拘紋希倒易空間晶胞基本參數的關係
1．6．3 晶向與晶向、晶面與晶面、晶向與晶面間夾角的計算
§1．7 14種布拉維（Bravais）點陣
§1．8 微觀空間對稱元素的組合
1．8．1 晶體的微觀對稱元素
1．8．2 微觀空間對稱元素與周期平移的組合
1．8．3 微觀空間對稱元素之間的組合
1．8．4 微觀對稱元素與非初基平移的組合
§1．9 空間群
1．9．1 坐標系原點的選擇
1．9．2 230個空間群
1．9．3 120個X射線衍射群
1．9．4 國際表中空間群套用的簡要說明
§1．10 X射線衍射方程
1．10．1 布拉格（Bragg）衍射方程式
1．10．2 晶面間距與晶體點陣常數的關係．_
1．10．3 晶面間距與晶體倒易點陣晶胞參數的關係
參考文獻
第二章 化合物組拳抹夜結構的晶體化學基礎
§2．1 化合物分類和晶體結構類型概述
2．1．1 二元和多元複雜化合物的組分分類
2．1．2 晶體結構類型的分類
2．1．3 晶體所屬空間群分布的統計
§2．2 密堆積理論和元素的晶體結構
2．2．1 圓球密堆積在晶體結構中的意義
2．2．2 等徑圓球六角和立方密堆積
2．2．3 圓球密堆積排列的空隙類型
2．2．4 多層密堆積的表示方承紙充法
2．2．5 圓球密堆積排列的點群和空間群
2．2．6 元素的晶體結構
§2．3 元素的原子半徑、離子半徑和共價半徑
2．3．1 元素的原子半徑
2．3．2 元素的離子半徑
2．3．3 元素的共價半徑
§2．4 原子的電負性、電離能和電子親合能
2．4．1 原子的電負性
2．4．2 原子的電離能
……
第三章 X射線粉末衍射實驗技術
第四章 粉末衍射法的峰形、位置和強度
《現代物理基礎叢書·典藏版：粉末衍射法測定晶體結構（下冊） X射線衍射在材料科學中的套用（第二版）》：
第二版前言
第一版序
第一版前言
第五章 粉末衍射圖譜的指標化
§5．1 粉末衍射數據的唯一性、完備性和準確性
§5．2 新相所屬晶系的確定
5．2．1 立方晶系
5．2．2 單軸晶系
5．2．3 正交晶系
§5．3 立方晶系面指數標定法
5．3．1 sin2θ（或d2）比值法
5．3．2 計算尺法
5．3．3 經驗判斷法
§5．4 標定面指數的圖解法
5．4．1 赫耳．戴維（Hull-Davey）圖解法
5．4．2 布恩（Bunn）圖解法
5．4．3 平行線圖解法
5．4．4 三線圖解法
§5．5 標定面指數的解析法
5．5．1 赫西一利普森（Hesse-Lipson）解析標定法
5．5．2 伊藤（Ito）解析標定法
§5．6 標定面指數的電腦程式法
5．6．1 晶面指數嘗試法
5．6．2 晶帶分析法
5．6．3 二分法
5．6．4 等原子三線法
§5．7 約化胞
5．7．1 約化胞概念
5．7．2 確定約化胞的方法
5．7．3 約化胞的類型
5．7．4 約化胞變換為標準單胞
5．7．5 約化處理套用實例
§5．8 齊次軸與德萊尼（Delaunay）約化
5．8．1 齊次軸
5．8．2 晶胞的齊次軸表示法
5．8．3 德萊尼約化法
5．8．4 24種德萊尼約化四面體
5．8．5 德萊尼約化法套用實例
§5．9 指標化結果正確性的判據
5．9．1 德沃爾夫（deWolff）的品質因數判據
5．9．2 史密斯（Smith）的FN或F20判據
5．9．3 面間距差值最小判據
5．9．4 密度判據
5．9．5 衍射線數目與單胞體積判據
參考文獻
第六章 晶體點陣常數的精確測量
§6．1 精確測定晶體點陣常數的意義
6．1．1 點陣常數與固態物質鍵能的關係
6．1．2 測定固態物質的壓縮係數和膨脹係數
6．1．3 測定相圖的固溶線
6．1．4 測定熱力學二級相變溫度
6．1．5 固溶體化學成分分析
6．1．6 判別固溶體的類型
§6．2 德拜-謝樂衍射幾何系統誤差的產生根源和消除方法
6．2．1 試樣的偏心
6．2．2 試樣的吸收
6．2．3 X射線垂直方向的發散度
6．2．4 X射線的折射
6．2．5 衍射照片的伸縮和照相機半徑加工不準確
6．2．6 衍射儀記錄系統的滯後性
6．2．7 衍射背底的影響
§6．3 西曼-玻林準聚焦對稱背反射型衍射幾何的系統誤差和消除方法
6．3．1 照相膠片伸縮
6．3．2 照相機半徑或刀邊偏差
……
第七章 X射線粉末衍射法測定新相的晶體結構
第八章 固溶體與超結構
第九章 晶體結構修正和鍵價理論
漢英對照主題詞索引
化合式索引
