薄膜干涉分為兩種一種叫等傾干涉,另一種稱做等厚干涉。等厚干涉是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋.薄膜厚度相同的地方...
等厚干涉條紋是定域在薄膜附近,與膜的等厚度線一致的干涉條紋。...... 等厚干涉條紋是定域在薄膜附近,與膜的等厚度線一致的干涉條紋。中文名 等厚干涉條紋 定...
等傾干涉是薄膜干涉的一種。薄膜此時是均勻的,光線以傾角i入射,上下兩條反射光線經過透鏡作用匯聚一起,形成干涉。由於入射角相同的光經薄膜兩表面反射形成的反射...
將兩塊玻璃板n1和n2疊起來,在一端墊一細絲(或紙片), 兩板之間形成一層空氣膜,形成空氣劈尖.圖a.形成與劈尖稜角平行,明暗相間的等厚條紋.觀察劈尖干涉的實驗...
干涉測量術(英語:Interferometry)是通過由波的疊加(通常為電磁波)引起的干涉現象來獲取信息的技術。這項技術對於天文學、測速以及驗光等領域的研究都非常重要。...
通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用於長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效於M1與...
雙光束干涉儀是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用於長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋...
用以檢測光學元件的面形、光學鏡頭的波面像差以及光學材料均勻性等的一種精密儀器。其測量精度一般為λ/10~λ/100, λ為檢測用光源的平均波長。常用的波面干涉...
3 光源尺寸對干涉效應的影響 4 等厚干涉 5 擴展光源 6 范西特-澤尼克定理 7 部分相干光的干涉特性 8 干涉條紋的定域性 9 雷射的相干性 空間...
同一半徑的圓環處空氣膜厚度相同,上、下表面反射光程差相同,因此使干涉圖樣呈圓環狀。這種由同一厚度薄膜產生同一干涉條紋的干涉稱作等厚干涉。...
干涉測量術(interferometry)是基於電磁波的干涉理論,通過檢測相干電磁波的干涉圖樣、頻率、振幅、相位等屬性,將其套用於各種相關測量的技術的統稱。用於實現干涉測量術...
干涉有兩種,一種稱做等厚干涉,這是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋.薄膜厚度相同的地方形成同條幹涉條紋,故稱等厚干涉...
常見的間接法測量有:稱量法、電容法、電阻法、等厚干涉法、變角干涉法、橢圓偏振法。按照測量的原理可分為三類:稱量法、電學法、光學法。常見的稱量法有:天平法...
五 膜厚監控 3.5多層介質薄膜的光學性質 一 雙層薄膜系統 二 多層薄膜系統 三 干涉濾光片 3.6介質薄膜的特徵矩陣 一 單層介質薄膜的特徵矩陣 二 多層介質薄膜的...
實驗19等厚干涉——牛頓環測凸透鏡曲率半徑實驗20分光計的調整及三稜鏡頂角的測定實驗21光柵的衍射第7章近代物理實驗實驗22邁克耳孫干涉儀測定He?Ne雷射的波長實驗...
光干涉測厚法根據相干光干涉形成等厚干涉條紋,通過對干涉圖樣分析處理得出薄膜厚度。光干涉測厚法的優點是精度高,易於實現,可快速掃描測量。但不足之處是只適用於...
若以波長為λ的單色平行光投射到這種裝置上,則由空氣膜上下表面反射的光波將互相干涉,形成的干涉條紋為膜的等厚各點的軌跡,這種干涉是一種等厚干涉。...
光的干涉、光的衍射、光的偏振、早期量子論和量子力學基礎、固體和雷射的量子...16.4.3 等厚干涉(膜的上下兩個表面不平行) 16.4.4 干涉儀 習題 第17...