端末效應

適當增加長徑比聚醋熔體在進入噴絲孔喇叭口時,由於空間變小,熔體流速增大所損失的能量以彈性能貯存於體系之中,這種特徵稱為“入口效應”也稱"端末效應"。

基本介紹

  • 中文名:端末效應
  • 外文名:End Effect
  • 又稱:端末效應
  • 性質:效應
英文名稱,定義,危害,

英文名稱

End Effect

定義

適當禁項腿笑增鴉鞏祖加長徑比熔體在進入噴絲孔喇叭口雅墊放時,由於空間變小,熔體流速增大所損失的能量以彈性能貯存於體系之中,這種特徵稱為“入口效應”也稱"端末效應"。

危害

端末效應會導致製件的變形拒挨乎、彎曲、尺寸不穩定,甚至因應力集中或過大而產生開裂。其中經大截面進入小截面時在變截面入口產生收斂性流動,使熔體承拘產生彈性悼定記變形,並固化吸收能量引起壓力下降,而且還可能會使熔辨陵影章體在一定長度(失穩流長)的小截面內發生湍流。

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