《空間單粒子效應——影響航天電子系統的危險因素》是2016年電子工業出版社出版的圖書，作者是韓鄭生。
基本介紹
- 中文名：空間單粒子效應——影響航天電子系統的危險因素
- 作者：韓鄭生
- 出版社：電子工業出版社
- 出版時間：2016年
- 頁數：316 頁
- 定價：79 元
- 開本：16 開
- ISBN：9787121281976
內容簡介,作者簡介,
內容簡介
本書主要講述電子器件在空間環境中的單粒子效應，器件在空間套用時單粒子輻照效應的地面評估方法，及其空間套用時的錯誤機率計算。
全書共17章，第1章和第2章主要介紹電子元器件空間單粒子效應的基礎知識；第3章至第5章對地面模擬空間單粒子效應的試驗進行詳細介紹、闡述試驗數據的分析方法；第6章講述試驗數據如何與器件機理進行對應；第7章、第8章、第11章至第17章講述空間單粒子翻轉錯誤率的計算與空間環境中的預估；第9章和第10章介紹兩種特殊的單粒子效應。
作者簡介
Edward Petersen，博士，1969年—1993年任職於美國海軍研究實驗室，自那時起，他一直擔任顧問。Petersen博士的研究集中於估算衛星系統的損壞率，他的研究表明空間損壞率的測量與基於實驗室實驗的預測是一致的。他撰寫或與他人合作撰寫了60餘篇輻射效應方面的論文，大多數與單粒子效應有關。作為IEEE會員，Petersen博士是IEEE核輻射效應和電漿科學學會獎的獲得者。
