積體電路自動測試探針台

積體電路自動測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2013年12月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：積體電路自動測試探針台
• 產地：日本
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2013年12月23日
• 所屬類別：電子測量儀器

技術指標

最大可測晶圓：12寸。

主要功能

對積體電路進行測試。