積體電路系統設計、驗證與測試

積體電路系統設計、驗證與測試

本書是“積體電路EDA技術”叢書之一,內容涵蓋了IC設計過程和EDA,系統級設計方法與工具,系統級規範與建模語言,SoC的IP設計,MPSoC設計的性能驗證方法,處理器建模與設計工具,嵌入式軟體建模與設計,設計與驗證語言,數字仿真,並詳細分析了基於聲明的驗證,DFT,而且專門探討了ATPG,以及模擬和混合信號測試等,本書還為IC測試提供了方便而全面的參考。

基本介紹

  • 書名:積體電路系統設計、驗證與測試
  • 作者:LouisScheffer
  • 譯者陳力穎
  • ISBN:9787030214904
  • 定價:62.00 元
  • 出版社科學出版社
  • 出版時間:2008年06月
  • 開本:16開
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

本書可作為從事電子科學與技術、微電子學與固體電子學以及積體電路工程的技術人員和科研人員即以高等院校師生的常備參考書。

圖書目錄

第1部分 介紹
第1章 引言
第2章 IC設計流程和EDA
第2部分 系統級設計
第3章 系統級設計中的工具和方法
第4章 系統級定義和建模語言
第5章 SoC基於模組的設計和IP集成
第6章 多處理器的片上系統設計的性能評估方法
第7章 系統級電源管理
第8章 處理器建模和設計工具
第9章 嵌入式軟體建模和設計
第10章 利用性能指標為IC設計選擇微處理器核心
第11章 並行高層次綜合:一種高層次綜合的代碼轉換方法
第3部分 微機繫結構設計
第12章 周期精準系統級建模和性能評估
第13章 微機繫結構的功耗估計和最佳化
第14章 設計規劃
第4部分 邏輯驗證
第5部分 測試
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