《礦物顯微圖像自動分析與套用》是一本2023年冶金工業出版社出版的圖書,作者是肖儀武 方明山 田明君。
基本介紹
- 中文名:礦物顯微圖像自動分析與套用
- 作者:肖儀武 方明山 田明君
- 出版時間:2023年3月
- 出版社: 冶金工業出版社
- ISBN:9787502494643
- 定價:179.00 元
《礦物顯微圖像自動分析與套用》是一本2023年冶金工業出版社出版的圖書,作者是肖儀武 方明山 田明君。
《礦物顯微圖像自動分析與套用》是一本2023年冶金工業出版社出版的圖書,作者是肖儀武 方明山 田明君。內容簡介本書系統地介紹了基於顯微鏡的礦物自動分析技術發展概況、礦物顯微圖像成像原理、數字圖像處理技術、關鍵礦物特徵參數...
詞目:電子探針X射線顯微分析 英文:electron microprobe X-ray micro-analysis 釋文:它能分析直徑為1微米的物質,檢出限可低至10^-14~10^-15克。樣品分析後,不被破壞,屬非破壞性分析。套用已相當廣泛,主要用於岩石礦物的深度分析,如與薄片鑑定結合,檢測未知礦物及難辨礦物——片鈉鋁石、鈉沸石、皂石……...
試樣中礦物的定量分析方法常使用直線法、計點法、面積法和目測法等。發展起來的超薄光薄片法,是將試樣磨拋成幾個微米厚的光薄片,提高了試樣顯微圖像的質量和分析的準確度。岩相分析法在水泥、玻璃、陶瓷等矽酸鹽材料的原料和製品物相組成的分析研究中得到廣泛套用。X射線物相分析法 利用單色X射線和多晶體物質相互...
另外,透視電子顯微鏡的套用,使對礦物晶體缺陷及其地質力學和地質構造意義的研究又深入了一步。地質儀器 觀察和分 掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子...
(1)在測定方法方面,完善了以顯微鏡為主的礦物學方法和礦物分離法,還套用了現代測試技術,特別是自動圖像分析、掃描電鏡和電子探針;(2)在測定數據的立體校正方面,一種趨向是根據二元球體模型和體視學理論,對礦物系統中連生體的出現幾率進行數學分析和計算機模擬;另一種是對實際物料採用常規顯微鏡和自動圖像分析儀...