礦物與岩石光學顯微鏡鑑定

礦物與岩石光學顯微鏡鑑定

《礦物與岩石光學顯微鏡鑑定》是2020年同濟大學出版社出版的圖書,作者是葉真華、葉為民。

基本介紹

  • 中文名:礦物與岩石光學顯微鏡鑑定
  • 作者:葉真華、葉為民
  • 出版社:同濟大學出版社
  • 出版時間:2020年8月1日
  • ISBN:9787560893297
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

本教材教學內容主要包括岩石礦物晶體,光率體,礦物,偏光顯微鏡,網路數碼實驗互動系統,礦物在單偏光、正交偏光和錐光下的鑑定方法,以及岩漿岩、沉積岩和變質岩的鑑定等,同時安排了12個實驗,系統、全面地覆蓋了地質工程專業及土木工程類相關專業本課生修學少學時“礦物與岩石”課程的教學內容,同時注意了網路數碼實驗互動系統等現代實驗技術的引入。
本教材可作為地質工程專業及土木工程類本科生修學“礦物與岩石”課程的配套實驗用教材,也可作為相關專業的工程技術人員、實驗員日常工作(實驗)的參考書。

圖書目錄

前言
實驗一 晶體的對稱型及晶族、晶系的確定
一、實驗的目的與要求
二、晶體與非晶質體
三、空間格子
四、晶體的基本性質
五、晶體對稱的特點
六、對稱操作和對稱要素
七、晶體的分類
八、晶體定向、晶面符號與晶帶
九、晶面符號、晶帶與晶帶定律
十、實驗內容
實驗二 偏光顯微鏡和實驗互動系統的使用
一、實驗的目的與要求
二、礦物岩石學實驗室使用管理規定
三、晶體光學原理
四、萊卡偏光顯微鏡的構造
五、偏光顯微鏡的調節與校正
六、網路數碼互動實驗系統
七、實驗內容
八、作業題
實驗三 單偏光鏡下晶體光學現象(一)
一、實驗的目的與要求
二、礦物的邊緣和貝克線
三、糙面、突起和閃突起
四、實驗內容
五、作業題
實驗四 單偏光鏡下晶體光學現象(二)
一、實驗的目的與要求
二、解理和解理夾角的測定
三、顏色、多色性和吸收性
四、實驗內容
五、作業題
實驗五 正交偏光鏡下晶體光學現象(一)
一、實驗的目的與要求
二、正交偏光鏡的裝置及特點
三、正交偏光鏡下礦片的消光現象和消光位
四、正交偏光鏡下礦片的干涉現象
五、干涉色及正常干涉色級序
六、補色法則和補色器
七、實驗內容
八、作業題
實驗六 正交偏光鏡下晶體光學現象(二)
一、實驗的目的與要求
二、非均質體斜交0A切面光率體橢圓半徑方位和名稱的測定
三、礦物最高幹涉色和最大雙折射率的測定
四、礦物多色性公式和吸收性公式的測定
五、礦物的消光類型及消光角的測定
六、礦物的延性及延性符號的測定
七、礦物雙晶的觀察
八、實驗內容
九、作業題
實驗七 錐光鏡下晶體光學現象(一)
一、實驗的目的與要求
二、錐偏光鏡的裝置特點
三、一軸晶垂直0A切面的干涉圖
四、平行OA切面的干涉圖
五、一軸晶斜交OA切面的干涉圖
六、實驗內容
七、作業題
實驗八 錐光鏡下晶體光學現象(二)
一、實驗的目的與要求
二、二軸晶垂直Bxa切面的干涉圖
三、二軸晶垂直0A切面的干涉圖
四、二軸晶平行0AP切面的干涉圖
五、二軸晶垂直Bzo切面的干涉圖
六、二軸晶平行一個主軸切面的干涉圖
七、二軸晶斜交主軸切面的干涉圖
八、二軸晶干涉圖色散觀察
九、實驗內容
十、作業題
實驗九 礦物的系統鑑定
一、實驗的目的與要求
二、岩石薄片中礦物顆粒大小及含量的測定
三、透明礦物薄片系統鑑定的內容與程式
四、實驗內容
實驗十 岩漿岩的系統鑑定
一、實驗的目的與要求
二、岩漿岩的礦物成分
三、岩漿岩的結構
四、岩漿岩構造
五、岩漿岩分類
六、岩漿岩鑑定示例
七、實驗內容
實驗十一 沉積岩的系統鑑定
一、實驗的目的與要求
二、沉積岩的系統鑑定
三、沉積岩的鑑定描述順序
四、沉積岩的鑑定描述舉例
五、實驗內容
實驗十二 變質岩的系統鑑定
一、實驗的目的與要求
二、變質岩的分類
三、變質岩的鑑定描述方法
四、變質岩鑑定舉例
五、實驗內容
附錄一 常見透明造岩礦物光,性特徵表
附錄二 彩色圖版
參考文獻

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