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磁測
儀器
常用的磁測儀器有：磁通計、特斯拉計（又稱高斯計）、磁測儀。磁通計用於測量磁感應通量，特斯拉計用於測量表面磁場強度或氣隙磁場強度，磁測儀用於測量綜合磁性能。所有儀器使用之前應仔細閱讀說明書，根據說明書的要求預熱，預熱之後按照說明書的要求進行操作。
常用儀器
最常用的測試儀器有GM-2高斯計，其主要套用於磁選機等選礦設備測試.價格低廉,使用方便。
GM55高斯計則針對日本高斯計進行開發研製，測試精度高,使用方便。
高斯測量
簡介
特斯拉計一般可用於測量磁性材料的表面磁場高度，具體而言就是測量表面中心部位的場強。
測量方法
測量之前應根據說明書的要求進行預熱，然後檢查、調整零點，使得非測量狀態下的示值為"0"。注意：在使用過程中一般不應調整霍爾電流。更換探頭時應根據探頭的說明在儀器熱態下調整霍爾電流，並在適當的部位標識霍爾電流參數值。可以經常檢查電流值，應為規定的數值。
測量表場的方法無法準確獲得全面的磁參數（如剩磁、矯頑力、磁能積），通常以上下限標樣的中心場資料作為參考資料來進行合格判別。此種方法對N、M系列可用，對H以上系列準確度要差一些。一般而言可以按照下述公式計算不同尺寸（圓柱或圓片）的中心場：
H=Br*K/√（1+5.28*K*K） （Gs） 式中：Br--標稱剩磁
K--圓柱、圓片的長徑比或方塊磁化方向與另二個方向中較短邊長之比。對於長寬相差較大的產品K=取 向長度/SQR（長*寬）
更準確的計算公式：
H=Br*K/√（1+（4+32/L）*K*K） （Gs）
L--方塊磁化方向的長度
32--探頭的測試係數參數（0.5*64）
特斯拉計探頭內霍爾片位置的確定：一般而言，霍爾片只有大約1*1~2*3平方毫米左右大小的面積，厚度約0.3~0.5毫米，且不在探頭的最前部，有時需要確定霍爾片的位置，可以採用如下的方法來判斷霍爾片的位置：將探頭在充磁產品的表面，此時特斯拉計示值不為零，探頭一直向外側延伸探出，當特斯拉計示值為零時即為霍爾片的前邊部，用鉛筆或記號筆沿產品的外邊界線標記記號；將探頭向相反方向延伸（此時探頭只有一小部分接觸在磁體上），當特斯拉計示值為零時在做記號，兩個記號的中位置即為霍爾片的實際位置。確定霍爾片位置時套用直徑大於10~15毫米的產品。
特斯拉計的優點是可以測試大方塊不同位置的表場大小、小圓柱或圓片兩個端面的磁場大小，確定一塊（個）產品磁性能的一致性。
磁通測量
簡介
磁通計一般是直接測量探頭線圈的磁感應通量，使用較多的是配以霍姆赫茲線圈，此種方法多是與標準樣品進行比較，進而進行產品的合格性判定。
磁通計使用之前，一定要按照要求進行預熱，使用中要調整好積分漂移，使漂移量在規定的範圍之內。每次測量之前要重定清零，釋放掉積分電容的殘留電荷或漂移積分電荷。
計算方法
當磁體的磁路閉合時，可以使用磁通計測量、計算剩磁，具體計算方法是：
Br=Φ/N/S
式中： Φ--磁通量；
N--線圈匝數；
S--磁體橫截面積。
注意事項
套用磁通計進行產品的合格性檢驗時，被測樣品和線圈的相對位置一定要與"標準樣品的和線圈的相對位置"相同。如果產品的性能範圍有嚴格的要求，應保存上限性能的產品、下限性能的產品，以進行檢驗定標、檢驗。
儀器測量
基本概述
磁測儀測量的磁學資料相對較全，可以測量、記錄退磁曲線，獲得較為齊全的磁學參數。詳細請參照設備的說明書，請恕這裡不做贅述。
異形產品的測量，有時需要製作特殊的工裝，測量時要進行特殊的計算，避免造成測量錯誤。具體參照磁測儀的說明或有關磁學的資料。
不同要求
當產品有使用溫度要求的用戶，有磁測儀的可以採用先飽和充磁，再在規定的溫度之下烘烤或水煮、油煮，然後直接測試、記錄退磁曲線。當參數要求更多時可以由供應商提供產品測試曲線或通過第三方進行測試獲取有關參數，不建議用戶購置"溫度特性磁測儀"（因其價格較高，也不可能經常閒置）。
特別說明
（1）由於釹鐵硼磁性材料固有的不可逆損失的存在，重複測試的結果一般要比首次測試的性能可能偏低一些；
（2）成品測試之後，很難用施加反向磁場的方法徹底退磁，對於有些產品而言，充磁之後對產品的安裝可能帶來不便；
（3）被測樣品無法採用磁場的方式退磁，只能進行時效退磁，其他方法的熱退磁有可能對材料造成不良影響；熱退磁對塗層也有極為有害的影響；
（4）鍍鎳的產品，由於鎳是鐵磁性物質，對原產品的外在性能有降低作用，請客戶在產品的塗層選擇、性能選擇時加以考量。
（5）無論磁通計、特斯拉計都無法獲得完整的磁性能參數；
（6）測試時樣品及環境溫度應在23~25℃的範圍內，且測試報告應註明測試時的環境溫度。
（7）一般而言較薄的產品無論電鍍與否均較難直接測量各片的磁性能參數，但可採用前面介紹的方法用磁通計測量來測量剩磁，配合特斯拉計測量中心場可以較為可靠地判定N、M系列產品的性能。
充磁
概述
在磁體長度接近充磁線圈的情況下充磁時，磁體的垂直中心位置應與充磁線圈的垂直中心位置重合，這樣才能保證磁體兩端磁場強度相等，保證充磁的對稱性減小由於充磁方法的原因造成磁體兩端表面磁場強度相等。
理論證明
充磁線圈兩端磁場強度是線圈的中心點的磁場強度是的1/2，在磁體接近充磁線圈的長度時，對於H、SH以上系列的產品有可能無法飽和充磁，當磁場強度不是足夠大時，即使是M、N系列的產品也無法飽和充磁。在一般情況下，充磁磁體的長度最好小於充磁線圈的2/3。
取向判定
概述
對於正方形方塊、垂直軸向取向的圓柱都存在取向（易磁化方向）的識別問題，可以採用已充磁的產品或借用儀器進行識別。
具體方法
（1）用已充磁的產品進行識別：對於正方形方塊，由於材料的各向異性，磁籌是按取向方向排列，因而取向方向易於磁化，磁化之後異極相吸吸力較大，而非取向方向的吸力則小，以次來識別判定取向方向；檢測用的磁鐵應稍大一些，過磁體小時吸力大小差異不易判別；對於垂直軸向取向的圓柱，一般只能用已充磁的磁體進行檢測：用磁鐵吸圓柱表面，將圓柱吸起，與地面垂直的方向即為取向充磁方向；
（2）利用磁通計進行識別：可以在正方形材料上吸一塊磁鐵，磁鐵的方向與磁通線圈垂直，磁通值相對較大的一面為取向面，與此面垂直的方向為取向方向。
