磁控濺射測試系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年03月24日啟用。 基本介紹 中文名:磁控濺射測試系統產地:中國學科領域:化學啟用日期:2004年03月24日所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡 技術指標,主要功能, 技術指標直流濺射功率最高200W,射頻濺射功率最高300W。主要功能採用金屬或非金屬靶材進行物相沉積。