石墨烯材料質量技術基礎:計量

《石墨烯材料質量技術基礎:計量》是2021年華東理工大學出版社出版的圖書。

基本介紹

• 中文名：石墨烯材料質量技術基礎:計量
• 作者：中國計量物科學研究院,任玲玲
• 出版時間：2021年5月
• 出版社：華東理工大學出版社
• ISBN：9787562864141
• 類別：自然科學類圖書
• 開本：16 開
• 裝幀：精裝

內容簡介

本書共七章。前兩章主要介紹了計量與材料計量的基本概念,以及石墨烯材料計量、標準的規劃設計及框架。後五章主要介紹了石墨烯材料質量評價中關於真假判斷的部分計量技術。第3章介紹了石墨烯材料拉曼光譜計量技術,第4章介紹了X 射線衍射法測量石墨烯材料晶體結構,第5章介紹了原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度,第6章介紹了石墨烯材料電子顯微鏡計量技術,第7章介紹了石墨烯粉體化學成分測量技術。附錄補充了X 射線衍射儀的溯源性研究、掠入射X 射線反射膜厚測量儀器校準的內容。

作者簡介

任玲玲，畢業於北京化工大學，現任中國計量科學研究院納米新材料計量研究所新材料計量實驗室主任，APMP(亞太計量組織)-TCMM（材料計量技術委員會）委員、VAMAS（先進材料標準化凡爾賽公約）組織中國代表，ISO TC229委員，全國納米計數標準化委員會納米檢測技術工作組秘書長。2003-2005年，中科院化學所分子納米結構與納米技術院重點實驗室，師從白春禮院士、萬立駿院士做博士後；2005-2007年，韓國KIST（Korea Institute of Science & Technology）做訪問學者。

圖書目錄

1章 計量與材料計量001

1.1 計量概述003

1.2 計量與測量007

1.2.1 測量007

1.2.2 計量008

1.2.3 計量特點010

1.3 測量誤差與測量不確定度011

1.3.1 測量誤差011

1.3.2 測量不確定度012

1.4 標準物質015

1.5 計量的作用017

1.5.1 計量對國民經濟的作用017

1.5.2 計量在基礎研究中的作用019

1.6 材料計量概述019

1.6.1 材料計量研究內容021

1.6.2 材料計量研究成果及社會服務022

1.6.3 材料計量國內外現狀023

1.7 國際計量組織026

1.7.1 國際計量局(BIPM) 026

1.7.2 亞太計量規劃組織(APMP) 028

1.7.3 先進材料與標準凡爾賽合作計畫(VAMAS) 029

1.8 計量比對030

1.9 總結與展望031

1.9.1 總結031

1.9.2 展望032

參考文獻035

第2章　國家質量基礎設施及石墨烯材料計量037

2.1 我國古代質量觀———度量衡039

2.2 現代質量觀———國家質量基礎設施041

2.3 計量在國家質量基礎設施中的基礎地位043

2.4 納米技術對計量技術的需求046

2.5 石墨烯材料產業國家質量基礎設施技術發展048

2.6 石墨烯材料關鍵特性參數調研057

參考文獻064

第3章　石墨烯材料拉曼光譜計量技術065

3.1 概述067

3.2 拉曼光譜儀溯源070

3.2.1 拉曼光譜測量原理071

3.2.2 拉曼頻移的溯源073

3.2.3 拉曼相對強度的溯源074

3.3 拉曼頻移和相對強度標準物質的研製076

3.3.1 拉曼頻移標準物質077

3.3.2 拉曼相對強度標準物質083

3.4 基於拉曼頻移和相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法086

3.4.1 基於拉曼頻移標準物質校準拉曼光譜儀的方法086

3.4.2 基於拉曼相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法089

3.5 石墨烯材料拉曼光譜測量標準方法090

3.5.1 測量方法研究091

3.5.2 標準方法建立過程中的國內比對093

3.6 小結096

參考文獻096

第4章　X 射線衍射法測量石墨烯材料晶體結構099

4.1 概述101

4.2 設備溯源和校準104

4.2.1 設備溯源105

4.2.2 設備校準106

4.3 測量方法研究109

4.3.1 測量樣品準備109

4.3.2 取樣原則109

4.3.3 測量條件110

4.3.4 圖譜分析及數據處理111

4.4 計量比對111

4.5 標準方法117

4.6 小結117

參考文獻118

第5章　原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度119

5.1 概述121

5.2 原子力顯微鏡技術原理122

5.3 原子力顯微鏡設備校準與溯源123

5.4 測量方法建立126

5.4.1 AFM 掃描模式的選擇126

5.4.2 AFM 測量用基底的影響126

5.4.3 AFM 測量參數的影響127

5.4.4 AFM 數據分析處理的方法128

5.4.5 不確定度評定131

5.5 計量比對132

5.5.1 比對樣品的選取132

5.5.2 國內比對133

5.5.3 國際比對136

5.6 測量方法標準化137

5.7 小結138

參考文獻138

第6章　石墨烯材料電子顯微鏡計量技術141

6.1 掃描電鏡測量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度144

6.1.1 掃描電鏡溯源及校準145

6.1.2 石墨烯片層尺寸測量方法154

6.1.3 大範圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測量方法159

6.2 透射電鏡測量石墨烯材料形貌、層數和層間距168

6.2.1 透射電鏡校準溯源169

6.2.2 透射電鏡放大倍率校準用標準物質171

6.2.3 透射電鏡校準方法174

6.2.4 石墨烯形貌、層數和層間距的透射電鏡測量方法179

6.3 小結185

參考文獻186

第7章　石墨烯粉體化學成分測量技術189

7.1 概述191

7.2 XPS儀器測量要求192

7.2.1 XPS儀器簡介192

7.2.2 XPS儀器檢定校準193

7.2.3 XPS儀器檢定校準用標準物質195

7.2.4 XPS儀器檢測注意事項195

7.3 石墨烯粉體的C/O 測量技術研究196

7.3.1 測量樣品選取196

7.3.2 石墨烯粉體XPS測量方法開發197

7.3.3 石墨烯粉體C/O 測量實例199

7.4 ICP MS儀器測量要求203

7.5 石墨烯粉體中金屬雜質測量技術研究204

7.5.1 測量樣品處理204

7.5.2 石墨烯粉體的ICP MS測量程式205

7.5.3 石墨烯粉體中金屬雜質測量實例205

7.6 標準測量方法開發209

7.7 小結209

參考文獻210

附錄1　X 射線衍射儀的溯源性研究211

附錄2　掠入射X 射線反射膜厚測量儀器校準221

索引226