相控陣檢測系統

相控陣檢測系統是一種用於機械工程領域的電子測量儀器,於2012年1月10日啟用。

基本介紹

  • 中文名:相控陣檢測系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:機械工程
  • 啟用日期:2012年1月10日
  • 所屬類別:電子測量儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

頻率範圍0-5MHz。

主要功能

試件內部缺陷檢測。

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