《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)是2020年11月1日實施的一項中華人民共和國國家標準,歸口於中華人民共和國工業和信息化部(電子)。
國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)規定了由單個、多個發光二極體(LED)晶片或器件組成的LED模組熱特性瞬態測試方法原理、一般要求、測試步驟、結果分析及計算、測試報告。該標準適用於單個、多個LED晶片或器件封裝而成的模組,以及LED晶片或器件和其他微電子器件構成的模組熱特性測量。其他多晶片或器件封裝而成的模組熱特性測量也可參考。
基本介紹
- 中文名:發光二極體模組熱特性瞬態測試方法
- 外文名:Transient thermal test method for light emitting diode modules
- 標準號:GB/T 38621-2020
- 中國標準分類號:L63
- 發布日期:2020-04-28
- 主管部門:中華人民共和國工業和信息化部(電子)
- 實施日期:2020-11-01
- 狀態:現行
- 國際標準分類號:31.120
- 性質:推薦性國家標準
- 歸口單位:中華人民共和國工業和信息化部(電子)
- 執行單位:中華人民共和國工業和信息化部(電子)
制定過程,制定背景,編制進程,制定依據,起草工作,標準目次,內容範圍,引用檔案,意義價值,
制定過程
制定背景
半導體照明技術發展迅速,功率型白光LED已經開始進入照明領域,但是產品的光色一致性、可靠性等還不十分令人滿意。對於同一LED器件,兩個廠家之間的測量結果可能存在很大的誤差。因此, LED照明產品檢測技術和標準方面還不能完全適應LED照明發展的要求。半導體照明與傳統照明的最大區別就是LED 的發光特性對溫度非常敏感。結溫是直接影響LED 的工作特性的參數,LED 結溫的高低直接關係到LED 出光效率、發射波長、器件壽命和可靠性。隨著功率型LED 的迅速發展,電流密度的增加,LED 熱性能的影響越來越明顯,因此,如何精確測量功率型LED 模組熱學特性,提高LED 散熱能力受到人們越來越多的關注。另外,隨著技術的不斷提高,已經開始向多晶片集成化LED 模組方向發展,模組的橫向和縱向之間的熱場分布特性的研究對於提高LED 光源模組的散熱能力以及光、電性能也至關重要。在穩態條件下測試出來的,依賴於溫度在結到基座之間的熱流路徑上的溫度的空間差異,其計算結果稱為“穩態熱阻 ”。但是,由於基座表面與熱沉接觸,這種測量方式難以用熱電偶精確測量基座溫度。因此,不同的測量裝置會影響穩態熱阻值的測量。鑒於此,制定了國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)。
編制進程
- 標準計畫
2015年8月18日,國家標準計畫《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(20151774-T-339)下達,項目周期24個月,由中華人民共和國工業和信息化部(電子)提出並歸口執行,主管部門為中華人民共和國工業和信息化部(電子)。
- 發布實施
2020年4月28日,國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)由中華人民共和國國家市場監督管理總局、中華人民共和國國家標準化管理委員會發布。
2020年11月1日,國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)實施。
制定依據
國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)依據中國國家標準《標準化工作導則—第1部分:標準的結構和編寫》(GB/T 1.1-2009)規則起草。
起草工作
主要起草單位:中國科學院半導體研究所、中國電子技術標準化研究院。
主要起草人:趙麗霞、馬占紅、李晉閩、劉秀娟、符佳佳、孫雪嬌、趙英。
標準目次
前言 | Ⅰ |
1範圍 | 1 |
2規範性引用檔案 | 1 |
3術語和定義 | 1 |
4原理 | 2 |
5一般要求 | 2 |
6測試步驟 | 3 |
7結果分析及計算 | 4 |
8測試報告 | 5 |
附錄A(資料性附錄)相關測試結果分析示例 | 6 |
附錄B(規範性附錄)相對熱特性瞬態測試方法 | 8 |
參考文獻 | 10 |
參考資料:
內容範圍
國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)規定了由單個、多個發光二極體(LED)晶片或器件組成的LED模組熱特性瞬態測試方法原理、一般要求、測試步驟、結果分析及計算、測試報告。該標準適用於單個、多個LED晶片或器件封裝而成的模組,以及LED晶片或器件和其他微電子器件構成的模組熱特性測量。其他多晶片或器件封裝而成的模組熱特性測量也可參考。
引用檔案
SJ/T 11394-2009 半導體發光二極體測試方法 |
參考資料:
意義價值
國家標準《發光二極體模組熱特性瞬態測試方法》(GB/T 38621-2020)的制定,是針對功率型LED,在不同的熱沉製冷條件下,測量晶片的熱場分布特性,結溫的瞬態測量,不需要考慮基座溫度,為晶片製備和器件結構設計等提供技術支撐。