發光二極體晶片點測方法

《發光二極體晶片點測方法》是2019年1月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：發光二極體晶片點測方法
• 外文名：Probe test method for light emitting diode chips
• 標準號：GB/T 36613-2018
• 中國標準分類號：L45

編制進程

2018年9月17日，《發光二極體晶片點測方法》發布。

2019年1月1日，《發光二極體晶片點測方法》實施。

起草工作

主要起草單位：三安光電股份有限公司、中國電子技術標準化研究院、廈門市三安光電科技有限公司、廣州賽西標準檢測研究院有限公司。

主要起草人：蔡偉智、梁奮、呂艷、金威、時軍朋、劉秀娟、李國煌、邵曉娟、周鋼。