《用於表征樣本中的顆粒的全息方法》是伊普拉森澤股份有限公司於2017年3月22日申請的專利，該專利公布號為CN109074025B，專利公布日為2021年6月8日，發明人是采迪瑞克·阿利耶、阿內斯·阿里謝里夫、皮埃爾·布朗丹、傑弗里·埃斯特班、萊昂內爾·赫維、達米安·伊賽貝。
基本介紹
- 中文名：用於表征樣本中的顆粒的全息方法
- 授權公告號：CN109074025B
- 授權公告日：2021年6月8日
- 申請號：2017800198635
- 申請日：2017.03.22
- 專利權人：原子能和替代能源委員會; 奧里巴ABX股份有限公司; 伊普拉森澤股份有限公司
- 地址：法國巴黎
- 發明人：采迪瑞克·阿利耶; 阿內斯·阿里謝里夫; 皮埃爾·布朗丹; 傑弗里·埃斯特班; 萊昂內爾·赫維; 達米安·伊賽貝
- Int. Cl.：G03H1/04(2006.01)I; G03H1/08(2006.01)I; G01N21/45(2006.01)I; G01N15/14(2006.01)I
- 專利代理機構：北京柏杉松智慧財產權代理事務所(普通合夥)11413
- 代理人：侯麗英; 劉繼富
- 優先權：1652501 2016.03.23 FR
- PCT進入國家階段日：2018.09.21
- PCT申請數據：PCT/FR2017/050672 2017.03.22
- PCT公布數據：WO2017/178723 FR 2017.10.19
專利摘要
本發明涉及一種用於全息表征樣本(10)中包含的顆粒(10b)的方法，該方法基於當樣本被光源(11)照射時，由圖像感測器(16)獲得的樣本的圖像(Io)或全息圖。全息圖是全息重建的主題，使得獲得複數圖像，稱為參考複數圖像(Aref)，表示在重建平面中由樣本透射的光波。將全息傳播運算元套用於所述參考複數圖像，使得獲得多個所謂的二次複數圖像(Aref，z)，從中確定描述由樣本沿著所述光波的傳播軸(z)透射的光波的光學特徵的變化的分布圖。
