環形光源用於檢測IC晶片上的印刷字元。
LED陣列成圓錐狀以斜角照射在被測物體表面，通過漫反射方式照亮一小片區域，工作距離在10-15MM時，該光源可以突出顯示被測物體邊緣和高度的變化，突出原本難以看清的部分，是邊緣檢測、金屬表面的刻字和損傷檢測的理想選擇
套用場合
檢測IC晶片上的印刷字元
檢測電路板上的元件
檢測標籤
檢測液晶玻璃基板的標記
檢測板裝藥缺片和顆粒破損
檢測軸承表面損傷
成像實例：
用零角度低工作距離打光，清晰展現物體表面劃痕。
透明手機乳膠按鍵上的數字清晰呈現
低角度環形光輕鬆獲取易拉罐蓋邊緣以及拉環輪廓，邊緣凹陷清晰可見
檢測物體表面凹槽的加工輪廓
瓶蓋上的商標、字元、圖案清晰顯現，特徵突出
檢測IC卡上的引線
