熱電漿CVD半導體金剛石薄膜的製備與性質研究

《熱電漿CVD半導體金剛石薄膜的製備與性質研究》是依託蘭州大學,由張仿清擔任項目負責人的面上項目。

基本介紹

  • 中文名:熱電漿CVD半導體金剛石薄膜的製備與性質研究
  • 依託單位:蘭州大學
  • 項目負責人:張仿清
  • 項目類別:面上項目
  • 批准號:69071922
  • 申請代碼:F0122
  • 負責人職稱:副教授
  • 研究期限:1991-01-01 至 1993-12-31
  • 支持經費:4(萬元)
項目摘要
本課題用熱絲協助CVD法成功的實現了金剛石膜的硼摻雜.用霍爾效應實驗證實是P型半導體材料,電阻率可降到0.01Ωcm,電阻率可改變十個量級以上,摻雜濃度可達10(20)原子/cm(3),達到目前國際先進水平,系統的研究了摻B金剛石膜的輸運機理和鍵合狀態.用IR分析測出B原子基態到第一,二激發態躍遷吸收峰,證實B原子在金剛石膜中以替位方式鍵合,用PL,ESR技術研究了金剛石膜中的缺陷態,首次提出B原子在金剛石膜中是非輻射中心,還研究了金剛石膜與金屬的接觸特性及熱處理時它的影響,還探索了N型摻雜的方法和問題,上述研究為金剛石膜在電子器件方面的套用和理論研究作出了貢獻.本工作在國內外學術刊物和國際會共發表8篇文章,獲省科技進步三等獎.

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