熱釋發光

熱釋發光,發光體中以某種方式被激發後,貯存了能量,然後加熱發光體,使它以光的形式把能量再釋放出來的發光現象。

基本介紹

  • 中文名:熱釋發光
  • 熱釋發光材料:含有一定濃度的發光中心和陷阱
  • 可製作劑量計
  • 有關:溫度繼續上升
  • 相關書籍::《固體發光》
原理,參考書目,

原理

熱釋發光材料中含有一定濃度的發光中心和陷阱,在光或射線粒子激發下,晶體內產生自由電子或空穴,其中一部分被陷阱俘獲。晶體受熱升溫時,被俘的電子熱激發成為自由載流子,當與電離的發光中心複合時就發出光來。發光強度近似正比於陷阱釋空率(單位時間、單位體積晶體內從陷阱釋放出的載流子數)和複合發光的效率。熱釋發光的強度隨發光體的溫度的變化曲線叫熱釋光曲線。測量時先在低溫(如液He或液N 溫度)下激發發光體。選擇加熱方式,可按分析數據的需要採取各種時間函式的變化,常用的是線性加熱。當發光體從低溫開始受熱升溫時,淺陷阱中的電子先受熱激發到導帶,熱釋光曲線上升,溫度上升到T時,曲線出現峰值,陷阱釋空時,曲線下降。溫度繼續上升,在另一溫度T時,曲線又出現峰值,對應於另一更深的陷阱。從曲線高峰的數目可推斷陷阱大致分為幾種深度,從高峰位置對應的溫度可估計陷阱深度。 近來由於測試技術的進步,可以測量發光光譜隨溫度的變化。利用熱釋光曲線研究陷阱是研究固體的一種簡單而重要的方法,此外,還可利用熱釋發光現象推斷一些古物的年代。物體受射線輻照時間越長,陷阱中俘獲的電子數越多,熱釋發光光和(熱釋發光曲線下面的面積)也越大,因此能反映發光體受輻照的歷史。測量樣品的熱釋發光光和並與參照樣品作比較,原則上可推斷化石等樣品的年代。熱釋發光及光釋發光現象作用相同,都是釋放陷阱電子,利用熱釋發光也可製作劑量計

參考書目

中國科學院吉林物理所、中國科學技術大學固體發光編寫組:《固體發光》,中國科技大學出版,1976。
D.Curie, Luminescence in Crystals, Methuen, London,1963.

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