Hot Disk的測量原理是基於Silas Gustafsson博士發明的瞬變平面熱源法（Transient Plane Source Method、TPS）。
在本方法中，探針是一個平面的探頭，探頭是由導電金屬鎳經刻蝕處理後形成的連續雙螺旋結構的薄片，外層為雙層Kapton保護層。外層的Kapton保護層的厚度只有0.025 mm，它令探頭具有一定的機械強度，同時保持探頭與樣品之間的電絕緣性。探頭通常被放置於兩片樣品中間進行測試，Hot Disk提供了不同尺寸與構造的探頭供客戶選擇，適用於各種不同性質樣品的測試。
Hot Disk所採用的瞬變方法與靜態方法相比具有很多優點。首先，測試速度更加快速。你只需直接測試由探頭傳到樣品中的熱量，而不必等待樣品中形成溫度梯度，因此可以節約大量的時間。其次更為重要的是，瞬變平面熱源法(TPS)不會受到接觸電阻的影響。在一般方法中，熱電偶與樣品之間形成的接觸電阻是測試方法的固有誤差，一般方法本身無法對其進行補償，即使在熱導率只有1-2 W/mK時，接觸電阻所產生的消極作用仍無法避免。
在瞬變方法中，只有在未受干擾的材料中的熱傳播得到的資料被用於計算，由探頭保護層、表面粗糙或探頭與樣品間小氣穴引起的干擾資料可以很容易地被排除掉。
