《無機質譜概論》是2006年化工出版社出版的圖書。
基本介紹
- 書名：無機質譜概論
- ISBN： 7-5025-8161-8
- 出版社：化工出版社
- 出版時間： 2006-3-1 0:00:00
簡介,主編,目錄,
簡介
【出刊日期】： 2006-3-1 0:00:00
【出版單位】： 化工出版社
【期刊號】： 7-5025-8161-8
本書內容分為兩部分：第一部分概括性地敘述了質譜法，特別是無機質譜法的起源、發展和完善過程，以及在近代自然科學發展歷程中它所扮演的重要角色，使讀者得以簡要了解質譜技術，並對無機質譜有全面概括地了解。第二部分，也是本冊書的主要部分，分別從實驗和使用角度描述了輝光放電質譜、二次離子質譜、雷射微探針質譜、加速器質譜和同位素稀釋質譜的基本原理、實驗方法和主要套用。並在書末列出了國際最新的原子質量、原子量與同位素表等。
本書適宜從事無機質譜分析和藉助於無機質譜方法進行科學研究的科技人員學習參考，也可作為大專院校相關專業師生的參考書。
主編
趙墨田、曹永明、陳剛、姜山
目錄
目錄
第一章無機質譜分析方法發展的歷史背景1
第一節質譜儀器1
一、分析器1
二、離子源4
第二節分析方法9
一、火花源質譜法10
二、輝光放電質譜法11
三、二次離子質譜法12
四、電感耦合電漿質譜法14
五、同位素稀釋質譜法16
六、雷射電離質譜法17
七、共振電離質譜法18
八、加速器質譜法19
參考文獻19
第二章輝光放電質譜法22
第一節引言22
第二節輝光放電基本原理23
一、輝光放電23
二、輝光放電的濺射和電離24
三、輝光放電質譜26
第三節儀器29
一、離子源29
二、質量分析器32
三、檢測系統34
第四節輝光放電質譜分析及特點35
一、樣品製備與預處理35
二、分析參數的選擇與分析過程36
三、半定量和定量分析37
四、分析特點和性能比較40
第五節套用42
一、金屬及半導體材料分析42
二、非導體材料分析47
三、深度分析49
參考文獻52
第三章二次離子質譜法54
第一節引言54
第二節一次離子束64
一、一次離子源64
二、一次離子束光路67
第三節入射離子與樣品的相互作用（二次離子發射機理）72
一、濺射產額72
二、二次離子產額80
第四節質譜儀與離子檢測系統84
一、質譜儀84
二、離子信號檢測系統87
第五節二次離子質譜儀90
一、二次離子質譜儀的分類90
二、IMS?6F型二次離子質譜儀93
三、樣品95
第六節二次離子質譜法的功能95
一、深度剖析95
二、絕緣樣品的分析108
三、質譜分析——質量掃描109
四、線掃描，二次離子質譜的橫向線分析110
五、微區分析110
六、三維分析112
第七節二次離子質譜法的定量分析112
第八節二次離子質譜法的套用118
一、質譜分析——大分子有機物的鑑別118
二、深度剖析——IC工藝的探索120
三、線掃描分析——金屬中雜質氫的檢測121
四、同位素分析——核燃料235U是否給周圍環境帶來放射性污染的
檢測122
五、二次離子圖像分析——馬口鐵組分的三維分布124
六、絕緣樣品的分析——雜質在SOI材料中的分布124
七、高深度解析度分析——IC工藝的淺結剖析125
八、矽中痕量硼二次離子質譜定量分析的異常現象126
參考文獻128
第四章雷射微探針質譜法130
第一節引言130
第二節雷射束132
一、雷射輻射132
二、諧振腔133
三、調Q（Q開關）技術134
四、電光調製Q135
五、雷射的聚焦136
六、雷射的倍頻137
第三節雷射與固體的相互作用138
一、雷射電漿禁止概念139
二、有機物和無機物的雷射解析140
第四節儀器141
第五節雷射微探針質譜法的套用146
一、半導體器件表面及體內雜質的鑑定147
二、各種材料微區沾污物的分析149
三、在生物、醫學領域的套用151
參考文獻152
第五章加速器質譜分析153
第一節加速器質譜分析原理153
第二節加速器質譜裝置155
一、離子源與注入器155
二、加速器156
三、高能分析器156
四、粒子探測器156
五、其他加速器的AMS裝置159
第三節加速器質譜測量過程與定量方法159
一、測量過程159
二、定量方法160
三、測量實例160
第四節套用研究162
參考文獻164
第六章同位素稀釋質譜法165
第一節概論165
第二節同位素稀釋質譜法原理168
一、同位素稀釋技術168
二、最佳稀釋比170
三、方法的靈敏度172
四、精密度、準確度和不確定度173
五、方法的極限189
第三節實驗方法192
一、實驗程式192
二、稀釋劑的選擇193
三、混合樣品的製備197
四、樣品前處理198
五、測量方法204
第四節方法特點235
一、具有絕對測量性質235
二、化學制樣無需嚴格定量分離236
三、靈敏度236
四、精密度和不確定度238
五、動態範圍238
第五節測量值的縮源性238
一、化學測量量值溯源的意義238
二、化學測量的特殊性239
三、探索實現化學測量量值溯源的途徑240
四、實現化學測量溯源的組織保障242
五、同位素稀釋質譜測量值的溯源244
第六節制約測量值不確定度的主要因素 244
一、稀釋劑的選擇和混合樣品的製備244
二、混合樣品的最佳稀釋比245
三、混合樣品的均勻性246
四、實驗過程的流程空白值246
參考文獻255
第七章同位素稀釋質譜法的套用257
第一節在核科學中的套用257
一、核燃料元素的準確測定257
二、核燃料、核材料中敏感元素的測定258
三、核反應堆輻照元件燃耗測定260
四、裂變產額測定中的裂變數測量262
五、裂變產額的測量263
六、測量技術264
第二節在地學中的套用264
一、在同位素地質年代學中的套用265
二、在同位素地球化學中的套用270
第三節在環境科學中的套用272
一、大氣成分分析272
二、水成分分析273
三、其他環境樣品分析276
第四節在生命科學中的套用278
一、生物樣品痕量元素測定278
二、穩定同位素示蹤中的套用280
第五節高純物質分析285
第六節在化學計量中的套用286
一、基、標準物質研製過程中的定值287
二、在化學量值溯源性研究中的套用290
參考文獻293
附錄296
Ⅰ國際同位素與原子量委員會2005年公布的元素原子量296
Ⅱ原子質量表299
Ⅲ元素同位素組成（2001年）305
Ⅳ質量干擾313
Ⅴ天然同位素及同量異位素(近似值)316
