本書主要介紹CMOS的結構、CMOS的基本特性與邏輯電路、CMOS器件的種類及特點、標準邏輯IC的功能及使用方法、CMOS邏輯IC的特性、CMOS器件的故障模式等。
基本介紹
- 書名：活學活用電子技術:CMOS電路活用技巧
- 出版社：科學出版社
- 頁數：213頁
- 開本：5
- 品牌：科學出版社
- 作者：大幸秀成 彭軍
- 出版日期：2012年6月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：7030341368, 9787030341365
基本介紹,內容簡介,作者簡介,圖書目錄,
基本介紹
內容簡介
《活學活用電子技術:CMOS電路活用技巧》可供半導體製造行業的技術人員閱讀，也可供電子等相關專業師生參考。
作者簡介
作者:(日)大幸秀成著;彭軍
圖書目錄
第1章CMOS器件的現狀
1.1半導體器件的分類
1.2CMOS器件的特徵
1.3CMOS產品的種類和特點
第2章CMOS的結構
2.1CMOS的結構
2.2設計規則
2.3CMOS的製造工程
2.3.1襯底材料的製作
2.3.2前工序
2.3.3後工序
第3章CMOS的基本特性與邏輯電路的基本結構
3.1CMOS的基本特性
3.1.1N—chMOSFET的特性表達式
3.1.2P—chMOSFET的特性表達式
3.1.3CMOS反相器的特性
3.1.4邏輯閾值電壓
3.1.5過渡區中的輸出電壓
3.1.6電阻近似
3.2CMOS的特點
3.2.1功率消耗小
3.2.2能夠在低電壓下工作/工作電壓範圍寬
3.2.3噪聲餘量大
3.2.4容易集成化
3.2.5輸入阻抗高
3.2.6基於輸入電容的初次記憶
3.3基本邏輯電路
3.4正邏輯與負邏輯
3.5基本電路
3.5.1反相器
3.5.2NAND門
3.5.3NOR門
3.5.4AND，OR門
3.5.5傳輸門
3.5.6時鐘脈衝門
3.5.7ExclusiveOR/NOR門
3.5.8觸發器
3.6CMOS的保護電路
3.6.1輸入保護電路
3.6.2輸出的保護
3.6.3電源/GND浮動時的保護
第4章CMOS器件的種類與特徵
4.1CMOS標準邏輯
4.1.1雙極邏輯的誕生
4.1.2CMOS邏輯的誕生
4.274***型的魅力
4.2.1BiCMOS邏輯的特徵
4.2.2ECL的特徵
4.2.3ASIC的問世與標準邏輯的需要
4.2.4單門邏輯的誕生
4.2.5低電壓化的趨勢
4.2.6封裝的發展趨勢
4.3存儲器
4.3.1ROM
4.3.2RAM
4.4ASIC的種類與特徵
4.4.1ASIC化的潮流
4.4.2半定製
4.4.3PLD
4.4.4門陣列
4.4.5標準單元
4.4.6全定製LSI
4.5半定製LSI的設計方法
第5章標準邏輯IC的功能與使用方法
5.1組合邏輯電路
5.1.1門電路
5.1.2門電路的套用舉例
5.1.3特殊門電路
5.1.4開路漏極
5.1.5模擬開關
5.1.6匯流排緩衝器
5.1.7雙向匯流排緩衝器
5.1.8匯流排緩衝器與匯流排的連線
5.1.9多路轉換器/逆多路轉換器/選擇器
5.1.10在多變數1輸出邏輯電路中的套用
5.1.11解碼器/編碼器
5.1.12使用解碼器的CPU周邊LSI的選擇
5.2時序邏輯電路
5.2.1鎖存器
5.2.2鎖存器的套用舉例
5.2.3匯流排數據的暫存記憶
5.3觸發器
5.3.1觸發器的動作
5.3.2觸發器的套用舉例
5.3.3匯流排的數據分配和保持電路
5.3.4計數器
5.3.5計數器的串級連線舉例
5.3.6移位暫存器
5.3.7移位暫存器的套用舉例
5.3.8單穩多諧振盪器
5.3.9單穩多諧振盪器的套用舉例
第6章CMOS邏輯IC的特性
6.1CMOS器件的接口
6.2CMOS器件的標準接口
6.2.1CMOS的輸入輸出特性
6.2.2CMOS電平與TFL電平
6.2.3CMOS電平的趨勢
6.3接口的專門技術
6.3.1扇出端數
6.3.2三態輸出與輸出衝突
6.3.3上/中/下沖，反射，激振噪聲
6.3.4線連“或”電路與從低電壓向高電壓的電平變換
6.4電壓變換接口
6.4.1從高電壓向低電壓變換的接口
6.4.2輸出的容忍功能
6.4.3從低電壓向高電壓變換的接口
6.4.4高→低/低→高雙向電壓變換接口
6.5冒險
6.5.1冒險引起的故障
6.5.2電晶體與CMOS邏輯的接口
6.5.3高速接口（單端與差動傳送）概要
6.5.4單端
6.5.5差動傳送（異動）
第7章CMOS器件的失效模式
7.1器件自身的失效
7.1.1早期失效
7.1.2偶然失效
7.1.3耗損失效
7.2失效模式
7.3外來因素引起的失效
7.3.1ESD岜成的損傷
7.3.2閂鎖造成的損傷
第8章器件模擬與傳輸模擬
8.1SPICE與IBIS
8.1.1SPICE
8.12IBIS
8.1.3IMIC
8.2LSI設計流程
8.3基於SPICE的器件/電路模擬
8.3.1器件模擬
8.3.2電路模擬
8.3.3SPICE模擬器的功能
8.4傳輸模擬
8.4.1數位訊號的誤解
8.4.2信號完整的基礎——方波是危險的
8.4.3傳輸信號的高速化技巧
8.4.4傳輸線的等效電路
8.4.5基於IBIS傳輸模擬
8.4.6EMI的法規
參考文獻
1.1半導體器件的分類
1.2CMOS器件的特徵
1.3CMOS產品的種類和特點
第2章CMOS的結構
2.1CMOS的結構
2.2設計規則
2.3CMOS的製造工程
2.3.1襯底材料的製作
2.3.2前工序
2.3.3後工序
第3章CMOS的基本特性與邏輯電路的基本結構
3.1CMOS的基本特性
3.1.1N—chMOSFET的特性表達式
3.1.2P—chMOSFET的特性表達式
3.1.3CMOS反相器的特性
3.1.4邏輯閾值電壓
3.1.5過渡區中的輸出電壓
3.1.6電阻近似
3.2CMOS的特點
3.2.1功率消耗小
3.2.2能夠在低電壓下工作/工作電壓範圍寬
3.2.3噪聲餘量大
3.2.4容易集成化
3.2.5輸入阻抗高
3.2.6基於輸入電容的初次記憶
3.3基本邏輯電路
3.4正邏輯與負邏輯
3.5基本電路
3.5.1反相器
3.5.2NAND門
3.5.3NOR門
3.5.4AND，OR門
3.5.5傳輸門
3.5.6時鐘脈衝門
3.5.7ExclusiveOR/NOR門
3.5.8觸發器
3.6CMOS的保護電路
3.6.1輸入保護電路
3.6.2輸出的保護
3.6.3電源/GND浮動時的保護
第4章CMOS器件的種類與特徵
4.1CMOS標準邏輯
4.1.1雙極邏輯的誕生
4.1.2CMOS邏輯的誕生
4.274***型的魅力
4.2.1BiCMOS邏輯的特徵
4.2.2ECL的特徵
4.2.3ASIC的問世與標準邏輯的需要
4.2.4單門邏輯的誕生
4.2.5低電壓化的趨勢
4.2.6封裝的發展趨勢
4.3存儲器
4.3.1ROM
4.3.2RAM
4.4ASIC的種類與特徵
4.4.1ASIC化的潮流
4.4.2半定製
4.4.3PLD
4.4.4門陣列
4.4.5標準單元
4.4.6全定製LSI
4.5半定製LSI的設計方法
第5章標準邏輯IC的功能與使用方法
5.1組合邏輯電路
5.1.1門電路
5.1.2門電路的套用舉例
5.1.3特殊門電路
5.1.4開路漏極
5.1.5模擬開關
5.1.6匯流排緩衝器
5.1.7雙向匯流排緩衝器
5.1.8匯流排緩衝器與匯流排的連線
5.1.9多路轉換器/逆多路轉換器/選擇器
5.1.10在多變數1輸出邏輯電路中的套用
5.1.11解碼器/編碼器
5.1.12使用解碼器的CPU周邊LSI的選擇
5.2時序邏輯電路
5.2.1鎖存器
5.2.2鎖存器的套用舉例
5.2.3匯流排數據的暫存記憶
5.3觸發器
5.3.1觸發器的動作
5.3.2觸發器的套用舉例
5.3.3匯流排的數據分配和保持電路
5.3.4計數器
5.3.5計數器的串級連線舉例
5.3.6移位暫存器
5.3.7移位暫存器的套用舉例
5.3.8單穩多諧振盪器
5.3.9單穩多諧振盪器的套用舉例
第6章CMOS邏輯IC的特性
6.1CMOS器件的接口
6.2CMOS器件的標準接口
6.2.1CMOS的輸入輸出特性
6.2.2CMOS電平與TFL電平
6.2.3CMOS電平的趨勢
6.3接口的專門技術
6.3.1扇出端數
6.3.2三態輸出與輸出衝突
6.3.3上/中/下沖，反射，激振噪聲
6.3.4線連“或”電路與從低電壓向高電壓的電平變換
6.4電壓變換接口
6.4.1從高電壓向低電壓變換的接口
6.4.2輸出的容忍功能
6.4.3從低電壓向高電壓變換的接口
6.4.4高→低/低→高雙向電壓變換接口
6.5冒險
6.5.1冒險引起的故障
6.5.2電晶體與CMOS邏輯的接口
6.5.3高速接口（單端與差動傳送）概要
6.5.4單端
6.5.5差動傳送（異動）
第7章CMOS器件的失效模式
7.1器件自身的失效
7.1.1早期失效
7.1.2偶然失效
7.1.3耗損失效
7.2失效模式
7.3外來因素引起的失效
7.3.1ESD岜成的損傷
7.3.2閂鎖造成的損傷
第8章器件模擬與傳輸模擬
8.1SPICE與IBIS
8.1.1SPICE
8.12IBIS
8.1.3IMIC
8.2LSI設計流程
8.3基於SPICE的器件/電路模擬
8.3.1器件模擬
8.3.2電路模擬
8.3.3SPICE模擬器的功能
8.4傳輸模擬
8.4.1數位訊號的誤解
8.4.2信號完整的基礎——方波是危險的
8.4.3傳輸信號的高速化技巧
8.4.4傳輸線的等效電路
8.4.5基於IBIS傳輸模擬
8.4.6EMI的法規
參考文獻
