正交偏光(crossed polarized light)這是兩個互相垂直的偏光片的習慣稱呼。
基本介紹
- 中文名:正交偏光
- 外文名:crossed polarized light
正交偏光(crossed polarized light)這是兩個互相垂直的偏光片的習慣稱呼。
正交偏光(crossed polarized light)這是兩個互相垂直的偏光片的習慣稱呼。在偏光儀和偏光顯微鏡中,設有上、下兩個偏光裝置——偏光片。這兩個偏光片允許通過的偏光的振動方向是互相垂直的。當自然光通過下偏光...
正交偏光鏡又稱正交尼科爾稜鏡(crossed Nicol)。在偏光顯微鏡(及反射偏光顯微鏡)中,當它的下偏光鏡(或前偏光鏡)的振動方向,與上偏光鏡的振動方向垂直時,叫做正交偏光鏡。在一般情況下,偏光顯微鏡的兩個偏光鏡都裝置成這種狀態。
偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑑定的必備儀器,可做單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑑別某一物質是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本...
許多均質體寶石在正交偏光下出現不規則的明暗變化,這種現象稱為異常消光,由於在均質體寶石中出現異常雙折射造成的。(2)全暗假象 有些高折射寶石如鑽石、鋯石、CZ等,若切工良好,台面向下放置時幾乎沒有光線能夠穿過,那么無論寶石為...
MshotMP40偏光顯微鏡是Mshot品牌旗下一款顯微鏡產品。作用 MP40透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑑定的 必備儀器,可供廣大用戶做單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。廣泛套用於地質、化工、製藥等領域的研究與...
本書分為三個部分,共八個模組:第一部分為晶體光學,包括顯微鏡下寶石礦物鑑定背景知識、寶石礦物單偏光鏡下晶體光學性質觀察與測試、寶石礦物正交偏光顯微鏡下晶體光學性質測試、寶石礦物錐光鏡下晶體光學性質的系統鑑定、寶石礦物偏光...
三斜晶系中的寶石。(4)如果樣品在正交偏光下轉動時,可看到灰暗的蛇紋狀、格線狀或不規則的現象,則可能是均質體寶石所呈現的異常干涉色,此時應十分注意。利用偏光器,還可以檢測寶石的多色性,能夠驗證寶石的非均質性和均質性。
在正交偏光系統中,當單色偏光傾斜入射於晶片後,由於分解成兩束相干偏光,相遇後,會產生干涉現象。一束單色自然光,經透鏡後形成平行光,然後經過起偏器,形成單色偏振光,單色偏振光再經過透鏡會聚,然通過波晶片,成為兩束具有一定位相差...
在正交偏光下使用干涉球觀察非均質體寶石時所呈現的由干涉條帶及黑臂組成的圖案,它是由於透過晶體的錐形偏振光所產生的消光與干涉效應的總和。英文:interference figure 它是由於錐形入射偏光透過晶體和上偏光鏡後產生干涉作用造成的綜合...
如黑雲母、許多角閃石、電氣石等礦物在正交偏光鏡間表現的顏色是干涉色和本身顏色的混合。又如某些礦物呈現“柏林藍”(類似純藍墨水顏色)或“銹褐”的異常干涉色,是由於雙折射率色散所致。當礦物對紫光的雙折射率顯著大於紅光的雙折射...
石英楔光程差一般從0-1680納米左右,在正交偏光鏡間,由薄至厚可以依次產生一級至三級的干涉色。在薄片上由薄至厚插入石英楔,當同名半徑平行時,薄片干涉色級序逐漸升高;當異名半徑平行時,薄片干涉色逐漸降低;當插至石英楔光程差與...
(l)正交偏光的校正。所謂正交偏光,是指偏光鏡的偏振軸與分析鏡的偏振軸呈垂直。將分析鏡推入鏡筒,轉動起偏鏡來調節正交偏光。此時,目鏡中無光通過,視區全黑.在正常狀態下,視區在最黑的位置時,起偏振鏡刻線應對準0°位置。...
礦片在正交偏光鏡下呈現黑暗的現象稱為消光(Extinction)。正交偏光下不放任何礦片時,來自下偏光鏡的偏光,其振動方向與上偏光鏡的振動方向垂直,被上偏光鏡反射或吸收,沒有光透過上偏光鏡,視域呈現黑暗。在正交偏光下放均質體的礦片...
指火山玻璃中的極細小的剛剛萌芽的結晶物質。它較微晶的 結晶程度更低,是熾熱的熔岩到地表驟然冷卻,迅速結晶而成。在正交偏光鏡下無光性 反應。根據雛晶的形狀可分為:小圓點狀的球雛晶,纖維狀的發雛晶,鏈狀的串雛品和 羽毛狀的...
兩鏡均由人工合成偏光片組成,通過角度的調整,可將射入光源轉換成正交偏光。正因為如此,該方法主要適用於透明固體藥物。透明固體藥物的觀測一般是在正交偏光下進行。由於晶體結構不同和偏光射入時的雙折射作用,在偏光顯微鏡上、下偏光鏡...
晶體光學課程系統地介紹晶體光學的基本概念和基本原理,讓學生掌握使用偏光顯微鏡,在單偏光系統、正交偏光系統和錐光系統下觀察和鑑定透明礦物的各種光學性質,為後續岩漿岩岩石學、變質岩岩石學、沉積岩岩石學等專業課程的學習打下基礎。課程...
旋轉晶粒(rotational grain)是指岩石在剪應力作用下,當應力超過晶粒間的結合力時,晶粒與晶粒間會發生相互錯動而旋轉。如石英晶粒旋轉時,其邊棱時常碎裂並與主體分離,最終石英晶粒可變成球體,在正交偏光下呈現出特徵的偏心環狀消光。
透明塑膠板等屬於各向同性體。對其施加力,以該部分為中心產生應力應變,從而出現變折射性。在經過偏光板的光前放置塑膠板,在照相機的鏡頭上裝上偏光濾光片,將此濾光片旋轉,使之成為正交偏光狀況進行拍攝,當應力應變為白色光時,靠...
異常光性anomalous optical property:一種非正常光性現象。均質性樣品,在正常情況下,在正交偏光鏡的視城裡,應表現為全消光,但有些均質性樣品因受內外應力的作用,發生某些變異,以致表現出部分不消光,甚至就如非均質樣品一樣也有...
某些具有強雙折射率色散的晶體在正交偏光下呈現的特殊色彩,它不遵守光程差與干涉色之間的正常關係,故稱為異常干涉色。具較強雙摺率色散的礦物,各色光△N不等,在通過薄片後的光程差亦不同,呈現出色譜表上沒有的干涉色。簡介 異常...
《礦物與岩石光學顯微鏡鑑定》是2020年同濟大學出版社出版的圖書,作者是葉真華、葉為民。內容簡介 本教材教學內容主要包括岩石礦物晶體,光率體,礦物,偏光顯微鏡,網路數碼實驗互動系統,礦物在單偏光、正交偏光和錐光下的鑑定方法,以及...
光性定向黏粒 光性定向黏粒是1998年公布的土壤學名詞。定義 在正交偏光下顯示類似雲母類礦物光學性質的定向排列黏粒。出處 《土壤學名詞》。
補色法則 《補色法則》指當兩個非均質體任意方向的礦片在正交偏光鏡間45°位置重疊時,如果兩者的光率體橢圓切面同名軸平行,則光程差相加,干涉色級序升高;如果異名軸平行,則光程差相減,干涉色級序降低。