模組高溫老化系統

模組高溫老化系統是一種用於電子與通信技術、產品套用相關工程與技術領域的工藝試驗儀器，於2003年3月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：模組高溫老化系統
• 產地：中國
• 學科領域：電子與通信技術、產品套用相關工程與技術
• 啟用日期：2003年3月8日
• 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備

技術指標

系統烘箱部分：溫度：室溫～150℃，過沖≤3℃，升溫時間≤40min，溫度偏差≤±2℃，溫度均勻度≤4℃雙重超溫保護裝置：系統電源與電子負載部分：共32個老化試驗區，每個老化區包含八路正電子負載和八路自適應電子負載（可正可負），每路電子負載工作條件（5V～30V，最大功率不超過75W）單個老化區電子負載總功率不超過19200W；電源輸出電壓範圍：0～40V，輸出電流範圍：0～30A，紋波≤50mV。

主要功能

對DC/DC電路進行專業的壽命試驗，可以單獨控制殼溫，每個試驗工位單獨控溫，單獨監測，獨立的試驗系統。