極低溫強磁場掃描隧道顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年3月4日啟用。
基本介紹
- 中文名：極低溫強磁場掃描隧道顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2014年3月4日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
XY方向掃描範圍 在 RT/4.2K/2K溫度下大於4/1.2/1.2微米。 Z方向工作範圍 在 RT/4.2K/2K溫度下大於250/70/60納米。 Z向解析度 室溫下好於0.02nm，4.2K下好於0.01nm。 XY方向解析度 室溫下好於0.05nm，4.2K下好於0.01nm。 穩定性 XY方向的漂移小於0.2nm/hour，Z方向小於0.1nm/hour。 樣品台 在XY平面內，樣品能夠在±0.5mm範圍內粗動。
主要功能
低溫強磁場條件下對凝聚態樣品表面原子成像，測量電子能譜，電性測量。
