《材料測試技術與分析方法》是2014年哈爾濱工業大學出版社出版的圖書，作者是楊玉林、范瑞清、張立珠、王平。
基本介紹
- 書名：材料測試技術與分析方法
- 作者：楊玉林，范瑞清，張立珠，王平
- 類別：A.材料科學與工程類
- 出版社：哈爾濱工業大學出版社
- 出版時間：2014年09月
- 頁數：344 頁
- 定價：48 元
- 開本：16 開
- ISBN：9787560345642
- 所屬叢書：十二五國家重點圖書出版規劃項目
- 責編：何波玲
- 中圖分類：工業技術
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
主要介紹了材料測試儀器的組成、基本原理、樣品的製備、測試步驟和數據分析。全書共18章，在編寫過程中，以培養學生獨立分析問題和解決問題的能力為重心，儘量簡化理論深度，突出實用性。
可作為化學、化工、材料類等專業本科生和研究生教材或輔助教材，也可作為相關科研人員和工程技術人員的參考書。
圖書目錄
第1章掃描電子顯微鏡
1.1簡介
1.2掃描電子顯微鏡的系統組成
1.3試樣的製備
1.4掃描電子顯微鏡的基本原理與分析方法
1.5 SEM分析示例
1.6掃描電鏡的技術發展
習題
第2章透射電子顯微鏡
2.1 簡介
2.2 TEM的系統組成及工作原理
2.3樣品製備技術（復型技術）
2.4套用實例
2.5高分辨透射電子顯微鏡簡介與套用
第3章x射線光電子能譜
3.1 簡介
3.2 XPS系統組成
3.3 XPS的基本原理
3.4樣品的製備
3.5 XPS的功能
3.6 XPS的套用及實例解析
習題
第4章俄歇電子能譜
4.1 簡介
4.2系統組成
4.3工作基本原理
4.4樣品的製備
4.5測試方法
4.6 AES分析方法和套用實例
習題
第5章拉曼光譜
5.1 簡介
5.2系統組成
5.3工作原理
5.4樣品的製備
5.5測試方法
5.6分析方法與套用實例
習題
第6章掃描隧道電子顯微鏡
6.1簡介
6.2系統組成
6.3基本原理
6.4測試方法
6.5掃描隧道顯微鏡的套用
第7章原子力顯微鏡
7.1簡介
7.2 AFM的系統組成
7.3基本原理
7.4原子力顯微鏡的成像模式
7.5原子力顯微鏡測試的關鍵技術
7.6套用
第8章x射線衍射分析
8.1 簡介
8.2系統組成
8.3工作原理
8.4樣品的製備
8.5分析方法
8.6套用實例
8.7單晶x射線衍射分析
8.8套用實例
第9章紅外吸收光譜
9.1 簡介
9.2系統組成
9.3基本原理
9.4樣品的製備
9.5分析方法和套用實例
習題
第10章紫外—可見分光光度法和紫外漫反射光譜
10.1 簡介
10.2紫外—可見分光光度計系統組成
10.3紫外—可見分光光度法的基本原理
10.4紫外—可見分光光度計的測試技術
10.5紫外—可見吸收分光光度法的套用
10.6紫外—可見漫反射光譜
10.7紫外—可見漫反射光譜在催化劑研究中的套用
習題
第11章分子螢光光譜法
11.1 簡介
11.2分子螢光光譜儀的組成
11.3分子螢光光譜儀工作基本原理
11.4樣品測試分析
習題
第12章X射線螢光光譜
12.1 簡介
12.2 x射線螢光光譜系統組成
12.3 x射線螢光光譜定性和定量分析的基本原理
12.4 x射線螢光光譜分析的樣品製備
習題
第13章核磁共振波譜法
13.1簡介
13.2核磁共振系統組成
13.3基本原理
13.4樣品的製備
13.5測試方法
13.6分析方法
13.7套用實例
習題
第14章電子順磁共振
14.1簡介
14.2 ESR的系統組成
14.3基本原理
14.4 ESR測試方法
14.5研究對象
14.6套用舉例
習題
第15章質譜分析法
15.1簡介
15.2系統組成
15.3工作原理
15.4樣品的製備
15.5分析方法
15.6套用實例
習題
第16章熱分析技術
16.1簡介
16.2熱重分析法
16.3差熱分析法
16.4差示掃描量熱法
16.5熱分析套用
第l7章電漿發射光譜
17.1簡介
17.2 ICP系統組成
17.3光譜分析的基本原理
17.4樣品的製備及分析方法
17.5 ICP套用舉例
